Вид - интерференционная картина
Cтраница 3
Интерферометр с компенсатором дает возможность контролировать асферические поверхности любого порядка. Даже в тех случаях, когда не удается подобрать идеальный компенсационный объектив, можно заранее рассчитать вид интерференционной картины при имеющемся объективе и идеальной асферической поверхности, а затем сравнить расчетную и реальную картины. [31]
 |
ПрииципиальЕгая схема интерферометра Майкельсона для контроля плоских поверхностей бесконтактным методом. [32] |
Сечение по линии А-А ( угол а и размеры дефектов для наглядности сильно увеличены); в - Вид интерференционной картины полос раиной толщины в интерферометре Физо. [33]
Рассмотрим изменение интерференционной картины в опыте Юнга, обусловленное использованием протяженного источника света. Разумеется, речь идет не об увеличении размеров источника в направлении, параллельном щелям: при использовании такого линейного источника вид интерференционной картины, как мы видели, не меняется. [34]
Рассмотрим изменение интерференционной картины в опыте Юнга, обусловленное использованием протяженного источника света. Разумеется, речь идет не об увеличении размеров источника в направлении, параллельном щелям: при использовании такого линейного источника вид интерференционной картины, как мы видели, не меняется. Сейчас нас будет интересовать вид интерференционной картины при использовании первичного источника конечной ширины, а сами щели будем для простоты считать бесконечно узкими. Мы увидим, что с увеличением ширины источника резкость интерференционных полос уменьшается вплоть до их полного исчезновения. [35]
В предыдущих главах рассматривались основные причины, влияющие на вид интерференционной картины, наблюдаемой с ИФП. Использование ИФП совместно с лазерами в качестве селекторов излучения, применение ИФП в перестраиваемых лазерах для сканирования и монохроматизации излучения, измерение АК ИФП с помощью одночастотного лазера и другие способы их применения приводят к необходимости развития теории, описывающей вид интерференционной картины при прохождении через ИФП полностью или частично пространственно-когерентного излучения. В то же время появление импульсных лазеров с малой длиной излучаемого светового цуга, а также исследование спектральных линий, испускаемых атомами и ионами с малым временем жизни возбужденного состояния, ставят вопрос о влиянии на вид наблюдаемой с ИФП интерференционной картины временной когерентности излучения. Число работ, посвященных этим проблемам, в настоящее время невелико [29, 38, 47], хотя пространственная и временная когерентность анализируемого излучения, конечно, оказывают решающее влияние на формирование АК идеального и реального ИФП. [36]
Разность хода в точке М для волн, испускаемых двумя произвольными точками круглого отверстия Т, меняется в интервале от О до А, так как А-максимальная разность хода волн для рассматриваемого отверстия. Какой бы ни была интенсивность света в точке М, ее изменения вдоль отрезка ММ пренебрежимо малы. Чтобы вид интерференционной картины оставался неизменным вдоль отрезка ММ, изменение разности хода должно быть значительно меньше длины волны света К. [37]
Рассмотрим изменение интерференционной картины в опыте Юнга, обусловленное использованием протяженного источника света. Разумеется, речь идет не об увеличении размеров источника в направлении, параллельном щелям: при использовании такого линейного источника вид интерференционной картины, как мы видели, не меняется. Сейчас нас будет интересовать вид интерференционной картины при использовании первичного источника конечной ширины, а сами щели будем для простоты считать бесконечно узкими. Мы увидим, что с увеличением ширины источника резкость интерференционных полос уменьшается вплоть до их полного исчезновения. [38]
В этом случае его влияние велико: небольшая ошибка в определении поворота будет приводить к большой ошибке в определении относительной деформации. Степень свободы в выборе условий, в которых следует проводить измерения, зависит от выбранного метода. Однако, в принципе, какая бы методика не избиралась, вид интерференционной картины определяется не только одним компонентом деформации, на него оказывают влияние оба компонента-и тензор относительной деформации, и тензор поворота. [39]
 |
Критерий Рэлея разрешимости спектральных линий. [40] |
Напомним, что этот опыт был рассмотрен в приближении точечных вторичных источников, которое применимо тогда, когда размер отверстий много меньше длины волны. Как мы видели, вместо точечных отверстий можно использовать бесконечно узкие параллельные щели, и вид интерференционной картины в центре экрана при этом не меняется. [41]
 |
Зондовый радиометр, измеряющий лучистый поток по уравнению q.| Схемы приборов, создающих. [42] |
Неодинаковая темпера-тура в различных участках мембраны соот - ветствует количеству поглощенной энергии. Благодаря нагреванию мембраны за счет излучения масляная пленка на необлучаемой стороне мембраны неравномерно испаряется. Разность температур преобразуется в разность толщин масляной пленки и с помощью оптической системы фиксируется в виде интерференционной картины поверхности. [43]
 |
Зондовый радиометр, измеряющий лучистый поток по уравнению q - Я.| Схемы приборов, создающих изображение нагретой поверхности ( температурного поля. [44] |
Неодинаковая те шера-тура в различных участках мембраны соответствует количеству поглощенной энергии. Благодаря нагреванию, мембраны за счет излучения масляная пленка на необлучаемой стороне мембраны неравномерно испаряется. Разность температур преобразуется в разность толщин масляной пленки и с помощью оптической системы фиксируется в виде интерференционной картины поверхности. [45]
Страницы: 1 2 3 4