Cтраница 2
![]() |
Дифракционное изображение точек. [16] |
Теоретическая разрешающая способность оптической системы определяется на основе дифракционной теории. Реальная оптическая система в отличие от идеальной строит изображение светящейся точки Б виде дифракционной картины, состоящей из темных и светлых концентрических колец. Изображение двух светящихся точек оптическая система строит в виде, показанном на рис. 4 - 6, причем освещенность будет максимальной в центральной части изображений. [17]
![]() |
Изображение светящегося диска ( например, планеты, полученное с помощью телескопа ( дифракционная картина. [18] |
Аналогичным образом могут быть поняты и другие, более сложные дифракционные картины. Так как расчет зон Френеля зависит от длины волны света, то, следовательно, и вид дифракционной картины будет зависеть от длины волны. Опыт вполне подтверждает это заключение. [19]
Аналогичным образом могут быть поняты и другие, более сложные дифракционные картины. Так как расчет зон Френеля зависит от длины волны света, то, следовательно, и вид дифракционной картины будет зависеть отдлины волны. Опыт вполне подтверждает это заключение. [20]
Аналогичным образом могут быть поняты и другие, более сложные дифракционные картины. Так как расчет зон Френеля зависит от длины волны света, то, следовательно, и вид дифракционной картины будет зависеть о т д л и н ы волны. Опыт вполне подтверждает это заключение. [21]
Аналогичным образом могут быть поняты и другие, более сложные дифракционные картины. Так как расчет зон Френеля зависит от длины волны света, то, следовательно, и вид дифракционной картины будет зависеть от длины волны. Опыт вполне подтверждает это заключение. [22]
![]() |
Изображения S и. [23] |
Эти отверстия, на которых дифрагирует свет источника So, представляют собой два практически точечных источника. Чтобы найти вид дифракционной картины в плоскости л, нужно сложить амплитуды световых колебаний, учитывая при этом их разность фаз ср. [24]
Об этом свидетельствовал вид дифракционных картин, интенсивности которых были сравнимы как при температуре 800 - 900 С в начальный период термической обработки, так и при температуре выше 1300 С, когда производилось термическое травление в высоком вакууме. [25]
Сферическая волна S, исходящая из точки S, преобразуется в сходящуюся сферическую волну S с центром в точке S - геометрическом изображении точечного источника S. Известно, что действительное изображение в точке S представляет собой небольшое по размеру световое пятно, структура которого определяется явлением дифракции. Структура пятна, или вид дифракционной картины, зависит от формы отверстия, образуемого оправой объектива. Чтобы определить эту структуру, необходимо рассмотреть явление дифракции на бесконечности - явление Фраунго-фера. Выражение дифракция на бесконечности легко понять, если представить себе, что объектив О заменен двумя другими объективами с фокусными расстояниями в 2 раза большими, чем у объектива О. [26]
Для структуры 7x7 имеются два режима появления. Для образцов кремния, легированных фосфором и золотом, она получается после резкого охлаждения кристалла, нагретого до 900 - 1000 С. Различие двух режимов связано и с различием в виде дифракционных картин. [27]
Сферическая волна, распространяющаяся из точечного источника S, встречает на своем пути экран с круглым отверстием. Вид дифракционной картины зависит от числа зон Френеля, укладывающихся в отверстии. [28]
Сферическая волна, распространяющаяся из точечного источника S, встречает на своем пути экран с круглым отверстием. Вид дифракционной картины зависит от числа зон Френеля, открываемых отверстием. [29]
Сферическая волна, распространяющаяся из точечного источника S, встречает на своем пути экран с круглым отверстием. Вид дифракционной картины зависит от числа зон Френеля, укладывающихся в отверстии. [30]