Cтраница 3
![]() |
Различные виды плотности состояний, которые, как предполагается, могут осуществляться в аморфных полупроводниках ( области, соответствующие локализованным состояниям, заштрихованы. [31] |
Прыжки носителей между локализованными состояниями, расположенными в зонах вблизи уровня Ферми Ер ( рис. 15.18); эти состояния обусловлены собственными дефектами и посторонними примесями. [32]
Энергия Ес, отделяющая локализованные состояния от делокализо-ванных, называется порогом подвижности. Ее положение зависит от массы частицы и степени беспорядка в системе. [33]
Роль, которую играют локализованные состояния в псевдоцели между порогами подвижности, представляет собой особую проблему при интерпретации спектра поглощения неупорядоченных материалов. [35]
Они не служат источниками локализованных состояний в запрещенной зоне [93], а их размеры и концентрация существенно зависят от условий осаждения пленок. Измерения плотности a - Si: Н [94] показывают, что средний размер микрополостей немного больше размера дивакансии и что концентрация водорода определяется в основном количеством этих компенсированных микрополостей. [36]
Ер лежит в области локализованных состояний ( в зазоре) между ( - 1) - й и г-и подзонами Ландау. [37]
Возникновение в энергетических зонах локализованных состояний и их электрофизическая активность обусловлены в основном структурой химической связи вблизи дефектов, наличием примесей замещения и внедрения и электронным взаимодействием между подрешетками матрицы. Легирование примесями замещения используется с целью управления типом и концентрацией носителей заряда. А что можно сказать относительно других локализованных состояний. [38]
Там возможно также наличие локализованных состояний, например оборванных связей, энергии которых определяются зонной структурой, а не уровнями Ландау. Эти состояния в отличие от носителей в инверсионном слое не описываются в рамках формализма эффективной массы, и было бы некорректным считать их отщепленными от уровня Ландау. Тем не менее они могут выступать в роли резервуара электронов, поставляя носители в инверсионный слой и обусловливая тем самым наличие плато. [39]
Если волновая функция для локализованного состояния такова, что вероятность встретить электрон на инородном атоме и в кристалле одинакова, и если данное состояние дважды занято, мы имеем чисто гомеополярную поверхностную связь. [40]
Распределение этих вводимых фосфором локализованных состояний по энергиям оценивалось путем наилучшей подгонки к экспериментальным спектрам а - hv и оказалось, что они расположены приблизительно на 0 6 эВ выше Ev и образуют широкую полосу. Согласно Ямасаки и др., этот широкий пик следует связать с атомами фосфора с координационным числом 3 или соответствующим им дефектом, поскольку интегральное выражение N ( E) для этой полосы имеет почти тот же порядок величины, что и концентрация атомов фосфора. Плотность этих состояний намного меньше плотности состояний, соответствующих широкой полосе вблизи Ev 0 6 эВ, и поэтому их наличие не отражено в ФАС-данных. [41]
Возникновение в энергетических зонах локализованных состояний и их электрофизическая активность обусловлены в основном структурой химической связи вблизи дефектов, наличием примесей замещения и внедрения и электронным взаимодействием между подрешетками матрицы. Легирование примесями замещения используется с целью управления типом и концентрацией носителей заряда. А что можно сказать относительно других локализованных состояний. [42]
Распределение этих вводимых фосфором локализованных состояний по энергиям оценивалось путем наилучшей подгонки к экспериментальным спектрам a - hv и оказалось, что они расположены приблизительно на 0 6 эВ выше Ev и образуют широкую полосу. Согласно Ямасаки и др., этот широкий пик следует связать с атомами фосфора с координационным числом 3 или соответствующим им дефектом, поскольку интегральное выражение N E) для этой полосы имеет почти тот же порядок величины, что и концентрация атомов фосфора. Плотность этих состояний намного меньше плотности состояний, соответствующих широкой полосе вблизи Ev 0 6 эВ, и поэтому их наличие не отражено в ФАС-данных. [43]
Уровень энергии, соответствующий локализованному состоянию электрона, возникает в результате отщепления экстремального уровня зоны энергии и перехода его в запрещенную зону. Если возмущение отрицательно, то в запрещенной зоне возникает уровень энергии за счет отщепления уровня минимальной энергии. Если возмущение положительно, то в запрещенную зону переходит уровень максимальной энергии. Примером положительного возмущения является возмущение, существующее в области вакансии. [44]
Уровень энергии, соответствующий локализованному состоянию электрона, возникает в результате отщепления экстремального уровня зоны энергии и перехода его в запрещенную зону. Если возмущение отрицательно, то в запрещенной зоне возникает уровень энергии за счет отщепления уровня минимальной энергии. Если возмущение положительно, то в запрещенную зону переходит уровень максимальной энергии. Примером положительного возмущения является возмущение, существующее в области вакансии. [45]