Спад - импульс
Cтраница 2
 |
Зависимость длительности импульса излучения от параметра Дпор / Д0. [16] |
Это обусловлено удлинением спада импульса. [17]
Время нарастания и спада импульса может быть и меньше этой величины. [18]
Длительность и форма спада импульса определяются параметрами Lm и Сэ. [19]
 |
Шлиф сварного шва ( толщина 20 мм со шлаковыми включениями и запись на диаграммной ленте. [20] |
Крутизна фронта и спада импульса характеризует тип дефекта. Дефекты типа пор и шлаковых включений имеют крутой фронт за счет резкого вхождения дефекта в зону коллиматора детектора. Дефекты типа трещин и расслоений имеют пологий фронт за счет постепенного изменения лучевого размера дефекта в зоне окна коллиматора. [21]
 |
Переходные процессы в системе усилитель - детектор. [22] |
Для хорошего воспроизведения спада импульса необходимо уменьшать постоянную времени нагрузки RnC. Возможности уменьшения емкости С ограничены монтажными емкостями и входной емкостью видеоусилителя. Поэтому для снижения постоянной времени нагрузки приходится выбирать малые значения Rs, что вызывает уменьшение коэффициента передачи и входного сопротивления детектора. [23]
Длительность фронта и спада импульсов зависит от постоянной времени транзистора та с учетом влияния коллекторной и эмиттерной емкостей транзистора, от полосы пропускания линии задержки и от коэффициента усиления усилителя, величиной которого определяются уровни ограничения сверху и снизу. [24]
Крутизна фронта и спада импульса характеризует тип дефекта. Дефекты типа пор и шлаковых включений имеют крутой фронт за счет резкого вхождения дефекта в зону коллиматора детектора. [25]
 |
Шлиф сварного шва ( толщина 20 мм со шлаковыми включениями и запись на диаграммной ленте. [26] |
Крутизна фронта и спада импульса характеризует тип дефекта. Дефекты типа пор и шлаковых включений имеют крутой фронт за счет резкого вхождения дефекта в зону коллиматора детектора. Дефекты типа трещин и расслоений имеют пологий фронт за счет постепенного изменения лучевого размера дефекта в зоне окна коллиматора. [27]
 |
Расчетная и экспериментальная зависимости. [28] |
Хотя при анализе спада импульса все приведенные соотношения качественно сохраняются, количественная оценка весьма затруднена. Это вызвано как значительной нелинейностью ряда параметров транзистора во время переходного процесса при его запирании [2], так и разрядом паразитных емкостей через сопротивление нагрузки. В микрорежиме постоянная времени спада обычно много больше постоянной времени фронта. [29]
Хотя при анализе спада импульса все приведенные соотношения качественно сохраняются, количественная оценка весьма затруднена из-за значительной нелинейности ряда параметров транзистора при его запирании [19] и прежде всего из-за разряда паразитных емкостей схемы через сопротивление нагрузки. В микрорежиме постоянная времени спада обычно много больше постоянной времени фронта. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5