Cтраница 1
Изучаемый спектр сравнивается со спектрами ряда изв чтных соединений и на чтой основе интерпретируется. [1]
Если изучаемый спектр богат линиями, то его гораздо удобнее рассматривать, сфотографировав как в дуговом, так и в искровом режимах, причем со ступенчатым ослабителем; наложения линий в дуге обычно отсутствуют в искре и наоборот. В то же время получатся спектры с различной интенсивностью линий. [2]
Если в изучаемом спектре обнаружена линия, положение которой удовлетворяет условию а ( раСЧ) а ( юж 0 5 мм, то найденная линия соответствует заданному элементу. Окончательный вывод о присутствии в пробе заданного элемента следует сделать после обнаружения всех выписанных чувствительных линий элемента. [3]
Для измерения длин волн одновременно с изучаемым спектром регистрируется па одну и ту же фотографическую пластинку ( пленку) спектр сравнения, положения линий в котором хорошо известны. Измеряя расстояние между линиями в исследуемом спектре и в спектре сравнения, можно рассчитать дисперсию, а затем и длину волны изучаемой липни в спектре определяемого элемента. Измерения проводят с помощью специальных приборов, называемых компараторами, позволяющими определять относительные расстояния между линиями на пластинке с высокой точностью. [4]
Анализ может быть выполнен визуальным способом, если изучаемый спектр относится к видимой области, или фотографическим, являющимся более общим и универсальным, дающим возможность анализировать спектры в видимой и ультрафиолетовой областях. [5]
При определении порядка спектра п следует учитывать условия возбуждения изучаемого спектра. Из числа этих линий исключают линии тех порядков спектров, которые нельзя наблюдать при выбранных условиях опыта. [6]
При определении порядка спектра п следует учитывать условия возбуждения изучаемого спектра. Выписывают из таблиц элементы, в спектрах которых могут быть линии с одинаковыми значениями произведения пКх, вводя поправку на возможную погрешность определения длины волны ДЯЛ. Из числа этих линий исключают линии тех порядков спектров, которые нельзя наблюдать при выбранных условиях опыта. [7]
С помощью дисперсионной кривой спектрографа и спектра железа находят в изучаемом спектре аналитическую пару линий ( таблицу наиболее распространенных аналитических пар линий см. на стр. [8]
Растворители имеют свей спектр поглощения; чтобы этот спектр не влиял на изучаемый спектр, берется обычно такой растворитель, собственный спектр поглощения которого лежит возможно далеко в коротковолновой области. Часто в качестве растворителей применяются соединения с насыщенными связями: метиловый и этиловый спирты, гексан и др. С этими растворителями возможно работать до 2000 - 2200 А. [9]
В микрофотометре МФ-4 предусмотрена возможность механического перемещения как негатива ( фотопластинки) с изучаемым спектром, так и регистрирующей фотопластинки. Высота пиков показывает плотность почернений спектральных линий на изучаемом участке спектра. Регистрирующий микрофотометр в спектроскопии применяется главным образом при изучении тонкой структуры спектральных лилий. При отключении регистрирующего устройства, микрофотометр МФ-4 может быть использован в тех же целях, что и нерегистрирующий микрофотометр МФ-2 для обычного измерения почернений спектральных линий. [10]
Само собой разумеется, что при этом должны быть соблюдены все необходимые предосторожности, предохраняющие от смещения изучаемого спектра относительно спектра сравнения. Спектры получаются при помощи диафрагмы Гартмана, причем спектр железа располагается выше и ниже спектра комбинационного рассеяния, вплотную примыкая к этому последнему. Экспозиции двух железных спектров различаются в 2 - 4 раза, что позволяет использовать в качестве реперов, как более сильные, так и более слабые линии железного спектра. Спектрограф ИСП-51, как и другие применявшиеся нами спектральные приборы, при правильной юстировке в достаточной степени свободны от астигматизма, так что применение гартмановской диафрагмы обеспечивает отсутствие смещения одного спектра относительно другого. [11]
Столь же удовлетворительные результаты дает и метод линейной интерполяции на малых участках спектра, который может быть осуществлен путем сопоставления изучаемого спектра с многолинейным спектром сравнения, а именно со спектром железной дуги. [12]
Если линии с найденной длиной волны обнаружены и соотношение интенсивностей всех рассматриваемых линий, в том числе и линий Кх в изучаемом спектре соответствует табличным данным, то Кл отождествлена: она относится к спектру элемента, указанному на планшете. [13]
Если линии с найденной длиной волны обнаружены и соотношение интенсивнсстей всех рассматриваемых линий, в том числе и линий Кх в изучаемом спектре соответствует табличным данным, то ЯА отождествлена: она относится к спектру элемента, указанному на планшете. [14]
Для этого сначала из таблицы, приведенной в приложении 1, выписывают 2 - 3 наиболее чувствительные ( или так называемые последние) линии отмеченного на планшете элемента и находят их в изучаемом спектре. [15]