Анализируемый спектр

Cтраница 1

Схема съемки в спектрографе с плоским кристаллом. [1]

Анализируемый спектр, образующийся в результате дифракции на кристалле, должен быть достаточно интенсивным. Важно также, чтобы кристалл допускал упругий изгиб с радиусом изгиба 20П - 300 мм, так как некоторые схемы спектрографов требуют изгиба кристалла. [2]

Временная зависимость высоты центрального пика ( О спектра ни-троокиси и значений двойного интеграла ( А яри / 26 С. данные обработаны. [3]

В правой части рис. V.22 показан анализируемый спектр. Знак минус после чисел указывает на отклонение пера вверх во время приема данных первоначального спектра. Поскольку в этом примере спектр был повторно записан с обратной фазой, знак минус указывает на отклонение пера вниз. [4]

Калибровочные метки. [5]

Диапазон качания частоты гетеродина определяется шириной анализируемого спектра. [6]

Диапазон качания частоты гетеродина определяется шириной анализируемого спектра. Для получения изображения спектра прямоугольного радиоимпульса, которое содержит основной лепесток и по три боковых лепестка с каждой стороны, требуется диапазон качания ( удвоенная девиация частоты) 2 / с8 / ти. [7]

Спектры индивидуальных веществ, которые служат для облегчения расшифровки анализируемого спектра, снимают строго в тех же условиях, что и спектр анализируемой пробы. Количество индивидуального вещества выбирают таким образом, чтобы интенсивность полос примерно соответствовала интенсивности его полос в спектре анализируемой пробы. [8]

Рассмотрим три возможных случая: 1) с исследуемой линией анализируемого спектра совпадает линия спектра, изображенного на планшете; 2) на планшете нет линий, совпадающих с линией исследуемого спектра; 3) известна длина волны линии ( например, аналитической линии, по которой желательно определять концентрацию заданного элемента в пробе), следует найти ее положение в исследуемом спектре. [9]

Часто выбор из альтернативных структур можно сделать по параметрам только / ( - полосы анализируемого спектра. В частности, сильно различаются положением / ( - полосы изомеры, содержащие сопряженные системы связей разной длины. [10]

Рассмотрим теперь ограничения, связанные с инерционностью фотодетектора; речь будет идти об ограничениях на ширину анализируемого спектра. [11]

Схема спектров, полученных с помощью диафрагмы Гартмана. Знаками или - после символов металлов, использованных для сравнения, обозначают приблизительную концентрацию этих металлов в пробе. [12]

Спектр, полученный для качественного анализа, с помощью атласа спектров железа обычно сравнивается со спектром железа, сфотографированным рядом с анализируемым спектром. На этих таблицах рядом с линиями железа помещена шкала длин волн и отмечены некоторые наиболее характерные для элементов аналитические линии. Вследствие различий между атомными и ионными спектрами выпускают отдельные атласы: только для спектра при дуговом возбуждении и только для спектра при искровом возбуждении. После чего по местоположению отмеченных в атласе линий элементов можно установить наличие или отсутствие в спектре анализируемой пробы аналитических линий ( разд. [13]

Поэтому деление радикалов на метки, жестко и не жестко связывающиеся С молекулой белка, является в значительной степени условным и относится прежде всего к типу анализируемого спектра. [14]

Появление духов нередко приводит к ошибкам при анализе спектра дифракционной решеткой, ибо максимум, соответствующий духу, можно принять за присутствие какой-то добавочной спектральной линии, в анализируемом спектре в действительности не имеющейся. [15]

Страницы: 1 2 3