Рентгеновский спектрометр
Cтраница 3
На рис. 5.12 приведена принципиальная схема рентгеновского спектрометра с изогнутым кристаллом. Как видно из рисунка, первичные рентгеновские лучи из источника падают на исследуемый образец, вызывая вторичное флуоресцентное излучение. Часть излучения через диафрагму подается под малым углом на поверхность изогнутого кристалла и под углом скольжения отражается от него. [31]
После прессования каждую таблетку помещают в прободержатель рентгеновского спектрометра ( режим рентгеновской трубки 35 кв 35 ми) и регистрируют в течение одной минуты число импульсов фона на линии 1 425 А и цинка на аналитической линии 1 435 А. Пользуются средними значениями из трех определений. [32]
Одним из основных приборов этой обсерватории должен стать рентгеновский спектрометр скользящего падения с высоким спектральным и пространственным разрешением. Разработаны два варианта этого спектрометра. [33]
На рис. 6.15 показана схема пироэлектрического детектора для рентгеновского спектрометра. [35]
Диагностика плазменного пучка производилась с помощью нескольких устройств: рентгеновского спектрометра, набора рентгеновских диодов, плоской камеры и магнитных зондов. [36]
 |
Электронная микрофотография структуры бериллиевой бронзы после закалки с температуры 800 С и старения при 300 С в течение Зч. X 12 000. [37] |
Микроанализатор состоит из электроннооптической системы, камеры образцов, рентгеновских спектрометров ( вакуумного К 12 5 - 67 А) и невакуумного ( X 0 7 - 1 25 А), а также системы регистрации и счета, в которую входят усилитель, амплитудный дискриминатор, пересчетный блок, высоковольтный выпрямитель, блоки питания, цифропечатающая машинка, самописец, контрольный генератор. [38]
Рентгеновский эмиссионный анализ можно осуществить в электронном микроскопе, присоединив рентгеновский спектрометр: это позволяет исследовать обратно рассеянные рентгеновские лучи; в сущности, микроскоп в данном случае функционирует как микрозонд. Его пространственное разрешение определяется диаметром падающего пучка электронов, который в обычном электронном микроскопе превышает 0 5 мкм. Это значительно больше, чем диаметр пучка электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа, где применяется другая электронно-оптическая система и диаметр пучка может достигать 2 нм. Однако разрешение, соответствующее такому малому диаметру пучка, получить не удается, так как рентгеновские лучи испускаются областью, размер которой определяется длиной пути возбуждающего электрона без потери энергии до значения, равного или меньшего критическому значению испускания рентгеновских лучей. [39]
Выполнение нестандартных количественных и качественных рентгеноспектральных анализов повышенной сложности на коротковолновых и длинноволновых рентгеновских спектрометрах, квантометрах и анализаторах способами внутреннего стандарта и стандарт-фона. [40]
Выполнение нестандартных количественных и качественных рентгеноспектральных анализов повышенной слож-ноети на коротковолновых и длинноволновых рентгеновских спектрометрах, квантометрах и анализаторах способами внутреннего стандарта и стандарт-фона. [41]
Выполнение нестандартных количественных в качественных рентгеноспектральных анализов повышенной сложности на коротковолновых и длинноволновых рентгеновских спектрометрах, квантометрах и анализаторах способами внутреннего стандарта и стандарт-фона. [42]
При применении гамма-спектрометров ( полупроводниковые детекторы, соединенные с многоканальными анализаторами, рентгеновские спектрометры с рассеянием энергии, см. 3.4.4.11) можно анализировать образцы без их разрушения. Напротив, применение счетчиков требует предварительного химического разделения; оно удобно для определения двух - трех элементов. [43]
 |
Схема флуоресцентного микроанализатора. [44] |
Объектная камера объединяет основные уллы микроанализатора: электронно-оптическую и вакуумную системы, рентгеновские спектрометры, оптический микроскоп. В камере расположен объектный столик, блок мишеней, осветители, отклоняющие электроды для снижения доли рассеянных электронов в зоне спектральных каналов. Каждый механизм смонтирован на отдельных плато, которые крепятся и вакуумно уплотняются на корпусе камеры. На объектном столике размещается несколько образцов с общей площадью до 30 X 30мм или стандартный минералогический шлиф, а также эталонные образцы. Система микрометрических подач обеспечивает перемещение образцов под зондом вручную или автоматически с заданной скоростью. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5