Cтраница 5
При исследовании неметаллических образцов на их поверхность напыляется тонкий слой ( - 0 1 мкм) сверхчистого металла ( А1, Аи, Мп, Си, Ag и др.) - Для проведения электронно-зондового микроанализа используют кристалл-дифракционные рентгеновские спектрометры и спектрометры с анализом энергетического расщепления рентгеновского излучения. [62]
Должен знать: общие сведения о рентгеновском характеристическом спектре и спектре торможения; свойства рентгеновских лучей и их взаимодействие с веществами; основные сведения о спектрах флюоресценции возбуждаемых проб; физические основы кристалл-дифракционных измерений; принципиальные схемы высоковольтных генераторов; оптическую схему рентгеновского спектрометра, правила подключения аппаратов к сети; устройство и типы рентгеновских трубок; назначение кенотронов, защитных кожухов и отдельных элементов пульта управления; характеристики аппаратов, применяемых в рентгеноспектральном анализе; основные приемы и правила работы на рентгеноспектральных аппаратах; метод построения градуированного графика; порядок выполнения расчета процентного содержания составляющих пробы; состав анализируемых продуктов; требования, предъявляемые к качеству проб, эталонов и анализов; методики и этапы проведения рентгеноспектрального анализа; источники погрешностей. [63]