Сравнение - пленка
Cтраница 2
В местах, где имеются поры, шлаковые включения, непровары, крупные трещины на пленке образуются более темные пятна. Вид и размеры дефектов определяют сравнением пленки с эталонными снимками. [16]
 |
Методы контроля сварных соединений. [17] |
Для сокращения экспозиции просвечивания в кассету с пленкой закладывают усиливающие экраны. После проявления пленки на ней фиксируют участки повышенного потемнения, которые соответствуют дефектным местам в сварном соединении. Вид и размер дефектов определяют сравнением пленки с эталонными снимками. [18]
 |
Методы контроля сварных соединений. [19] |
Для сокращения экспозиции просвечивания в кассету с пленкой закладывают усиливающие экраны. Поело проявления пленки на ней фиксируют участки повышенного потемнения, которые соответствуют дефектным местам в сварном соединении. Вид и размер дефектов определяют сравнением пленки с эталонными снимками. [20]
 |
Зависимость толщины граничного слоя нефти от градиента давления вытеснения. [21] |
В условиях пористой среды допускаем, что вся остаточная жидкость в образце находится в виде пленки. Для доказательства этого предположения было проведено сравнение остаточной пленки жидкости в стеклянных капиллярах различного радиуса и на границе со стеклянным песком фракции 0 03 мм, средний радиус поровых каналов которого, судя по порометрической характеристике, примерно равен 1 5 мкм. [22]
Адсорбционные слои, обладающие высокой стабилизирующей способностью при получении черных углеводородных пленок, могут быть образованы не только ПАВ, растворимыми в органической фазе, но и смесями масло - и водорастворимых ПАВ. В работе [57] показано, что добавлением водорастворимых ПАВ, которые не изменяют объемных свойств углеводородной фазы, можно получить устойчивые пленки из растворов маслорастворимых ПАВ при концентрации, которая недостаточна для образования черных пленок в отсутствие водорастворимой добавки. Аналогичные данные получены и в работе [55] на основе сравнения сы пленок в йрисутствии водорастворимых ПАВ и без них. [23]
В случае истинно аморфных полимеров при их образовании мы должны ожидать любых поворотов цепи полимера относительно ординарных связей, так что все закономерности в соотношениях фаз колебаний одинаковых химических групп нарушаются. Поэтому здесь не должно быть никаких правил отбора, и в результате наличия полос всех поворотных изомеров полимера его спектр должен быть чрезвычайно сложным. В то же время таких резких отличий, какие были обнаружены Брауном и Шеппардом [45] в спектрах некоторых простых соединений в жидком и кристаллическом состояниях, при сравнении пленок спектров одного и того же полимера в аморфном и кристаллическом состояниях обычно не обнаруживается. У некоторых полимеров ( а именно у политетрафторэтилена) в аморфном состоянии действительно появляется ряд новых полос [46], но чаще различия в спектрах двух форм невелики. Причины этого явления пока еще не совсем ясны, но в случае полимеров указанные два состояния различаются очень нечетко, и можно предполагать, что образцы полимеров, которые не дают отчетливых рентгеновских дифракционных колец, могут все-таки иметь достаточно упорядоченные участки. Это приводит к тому, что могут иметь место такие соотношения фаз, которые делают некоторые формы колебаний неактивными. [24]
Дефектометр - это пластинка, изготовленная из того же материала, что и просвечиваемый металл. Толщина пластинки должна быть равна усилению шва. На дефек-тометре выфрезерованы канавки различной глубины. Качество просвеченного сварного шва определяется путем сравнения пленки с эталонными снимками, установленными для определенного изделия или группы изделий. [25]
Исчерпывающий обзор литературы по тонким полупроводниковым пленкам выходит за рамки этой книги. В данной главе мы ограничимся рассмотрением тех полупроводниковых материалов, которые применяются или могут быть использованы для изготовления тонкопленочных солнечных элементов. Кроме того, будут обсуждаться только те свойства пленок, которые влияют на фотоэлектрические характеристики элементов. Поскольку тонкие полупроводниковые пленки по своим параметрам существенно отличаются друг от друга в зависимости от вида материала и метода его осаждения, мы рассмотрим характерные особенности конкретных материалов и проведем сравнение пленок, получаемых различными методами. В разделах 3.4 и 3.5 будет дано краткое описание свойств пленок металлов и диэлектриков, которые являются неотъемлемой частью тонкопленочных солнечных элементов, в частности элементов с барьером: Шоттки и со структурой проводник - диэлектрик - полупроводник. [26]
Экранированные образцы пленок, пластифицированных бутиловыми эфирами фталевой и тиогликолевой кислот, не-претерпевают никаких изменений в воздухе, кислороде или в азоте, независимо от степени проникновения ультрафиолетовых лучей через стекло. Вытяжка имела кислую реакцию, что свидетельствует о начавшейся деструкции. При сравнении облученных и необлученных пленок было установлено, что пленки, пластифицированные дибутилфталатом, становятся более прозрачными ( просветляются), в то время как пленки, пластифицированные дибутиловыми эфирами тиодикарбоновых кислот, темнеют, что подтверждает низкую светостойкость пластификаторов этой группы. [27]
 |
Методы контроля сварных соединений. [28] |
Рентгеновское просвечивание основано на различном поглощении рентгеновского излучения участками металла с дефектами и без них. Сварные соединения просвечивают с помощью специальных рентгеновских аппаратов. При просвечивании рентгеновские лучи 2 проходят через сварное соединение и облучают пленку. Для сокращения экспозиции просвечивания в кассету с пленкой закладывают усиливающие экраны. После проявления пленки на ней фиксируют участки повышенного потемнения, которые соответствуют дефектным местам в сварном соединении. Вид и размер дефектов определяют сравнением пленки с эталонными снимками. [29]
При алюминировании большое значение имеют толщина алюминиевой пленки и равномерность толщины пленки по всему экрану. На прохождение алюминиевой пленки затрачивается часть энергии электронного пучка, причем с увеличением толщины алюминиевого покрытия возрастают потери энергии, что приводит к уменьшению яркости. С другой стороны, с увеличением толщины пленки алюминиевого покрытия возрастает коэффициент отражения, что повышает яркость. Для получения равномерной яркости и контрастности необходимо получить алюминиевый слой одинаковой толщины по всему экрану. Толщину алюминиевой пленки, нанесенной на сложную поверхность экрана, измерять прямыми методами весьма сложно, поэтому измерение толщины алюминиевой пленки производят косвенными методами. На рис. 2 - 62 показана электрическая схема прибора, предназначенного для быстрого неразрушающего измерения толщины тонкой алюминиевой пленки при алюминировании экранов ЭЛТ, термоизлучающих и зеркальных ламп, а также других подобных изделий. Измерение толщины тонкой металлической пленки производится методом сравнения измеряемой пленки с эталонной. [30]
Страницы: 1 2