Применяемое излучение

Cтраница 1

Схема фокусировки в многоканальном ди-фрактометре. [1]

Применяемое излучение должно быть достаточно мягким, чтобы обеспечить разрешение линий разных фаз. [2]

Рассеяние применяемого излучения в исследуемом веществе дает экспериментальную кривую интенсивности / ( s), на которой имеется несколько максимумов и которую после внесения соответствующих поправок нормируют к электронным единицам в случае рассеяния рентгеновских лучей или к кривой / 2 в случае дифракции электронов и нейтронов. [3]

Чем больше отличается длина волны применяемого излучения от длины волны края полосы поглощения исследуемого образца ( ККкрая), тем меньше интенсивность вторичного излучения и тем эффективнее применение экранов, ослабляющих вторичное излучение. [4]

А является функцией длины волны применяемого излучения. При сканировании окрашенного вещества пропускание слоем сорбента уменьшается в области поглощения вещества. Соответствующая область спектра может достигать 50 им и более. Для низких концентраций, применительно к которым справедлив закон Ламберта - Вера, можно использовать относительно широкий интервал длин волн облучающего луча t kc и оперировать со средними величинами пропускания для этой полосы. Для низких концентраций среднее поглощение в зоне линейно зависит от концентрации вещества, в этом случае форма зоны и распределение в ней вещества не играют важной роли. [5]

Схематическое изображение фотохимического прибора для исследования кинетики реакций в газовой фазе. [6]

Скорости фотохимических реакций зависят от интенсивности применяемого излучения, и общая особенность фотохимических экспериментов состоит в необходимости измерять ее. Обычно за единицу фотохимической интенсивности принимают Эйнштейн ( энергия одного моля фотонов, равная Nhv) в секунду. [7]

Сетка для построения полюсных фигур сс-железа н стали при съемке линии.| Сетка для построения полюсных фигур алюминия и его сплавов при съемке. [8]

Вид сетки зависит от исследуемого материала, применяемого излучения и индексов отражающей плоскости. [9]

Действие селективно поглощающего фильтра на характеристический спектр меди. [10]

Во многих случаях исследование существенно упрощается, если применяемое излучение монохроматизовано и не содержит ни Р - ЛИНИЙ серии / С, ни следов белого спектра. [11]

Влияние интенсивности облучения в ядерном реакторе на дегидрирование цетана при низких температурах.| Радиолиз цетана при низких температурах при облучении нейтронами и альфа-частицами. [12]

Наконец, большой интерес представляют данные о влиянии типа применяемого излучения на протекание такой нецепной реакции. Возможно, что различные излучения оказывают неодинаковое химическое действие. Это непосредственно следует из того, что проникающая способность данной частицы в поглощающем веществе тем меньше, чем тяжелее частица и чем больше ее заряд. [13]

Условием для этого является то, что длина волны применяемого излучения должна иметь тот же порядок, как и межатомные расстояния в молекуле или решетке. Для разных видов носителей энергии характерны различные взаимодействия, следовательно, и действуют различные механизмы кодирования - декодирования: рентгеновские лучи рассеиваются связывающими электронами, а потоки частиц - атомными ядрами. [14]

Схема спектрографа ( для абсорбции. [15]

Страницы: 1 2 3 4