Рассеянное излучение

Cтраница 3

Электронная схема токового детекторного устройства.| Электронная схема спектрометрического детекторного устройства. [31]

Вклад рассеянного излучения в сигнал зависит от положения ОК относительно источника излучения и детектора. [32]

Интенсивность рассеянного излучения зависит от угла рассеяния, энергии полезного пучка, величины поля или зоны рассеивания и композиции объекта. [33]

Интенсивность рассеянного излучения зависит от геометрических условий, величины и материала рассеивателя. Экспериментальный материал по интенсивности рассеянного излучения в настоящее время еще недостаточный. [34]

Интенсивность рассеянного излучения во втором и третьем случаях определяется квадратом модуля % ( 3) 2, что существенно искажает форму полезного сигнала из-за вклада фона нерезонансного рассеяния. [35]

Поле рассеянного излучения можно существенно изменить, покрывая отражающие поверхности лабиринта материалами с меньшим ( чем у бетона) коэффициентом отражения. Так, з работе [195] показано, что в результате покрытия железом только главных отражающих поверхностей интенсивность рассеянного излучения в двухколенном лабиринте уменьшается примерно в 10 раз. [36]

Регистрация рассеянного излучения в направлении, перпендикулярном к лазерному пучку, позволяет несколько улучшить геометрические характеристики измерительной системы с импульсным лазером и снизить предел обнаружения газовых загрязнителей. [37]

Схема к расчету компонент излучения натекания в точке Р на оси канала, частично пронизывающего защиту, от плоского изотропного источника. [38]

Составляющие рассеянного излучения определим методом задания эквивалентных источников рассеянного излучения на стенках канала для плоского изотропного источника. [39]

Влияние ширины полосы пропускания на спектры идентичных растворов. Следует обратить внимание на то, что оптическая плотность, меняется от спектра к спектру на 0 1. [40]

Интенсивность рассеянного излучения в высококачественных приборах не превышает нескольких десятых процента во всем интервале длин волн; в обычных условиях она не оказывает заметного влияния на величину оптической плотности. Однако, если измерения проводят при длинах волн, экстремальных для данного прибора, рассеянное излучение может внести заметную ошибку. Так, обычный спектрофотометр для измерений в видимой области снабжен стеклянной оптикой и кюветами; стекло начинает поглощать в области 350 - 400 нм. Кроме того, в таких приборах используют фотоумножители или фотоэлементы с максимумом электрического сигнала в интервале 500 - 700 нм; при 350 нм сигнал может составлять всего 10 % ( или меньше) максимального. Наконец, в приборах такого типа источником служит вольфрамовая нить, максимум энергии которой соответствует длинноволновой области видимого излучения; при 350 нм излучение составляет лишь часть максимального. Эти три фактора лимитируют применение прибора в коротковолновой области; чтобы получить значение оптической плотности в этой области, необходимо проводить измерения при максимальном усилении детекторного сигнала, максимальной интенсивности источника и с относительно-широкой щелью. [41]

Поток рассеянного излучения в общем случае распространяется в пространстве неравномерно. [42]

Источниками рассеянного излучения являются связанные электроны атома, которые приходят в резонансные колебания под действием падающего излучения и вследствие этого сами становятся излучателями уквантов такой же частоты. [43]

Влияние нежелательного рассеянного излучения на общий сигнал является сложной функцией размеров и положений коллиматоров источника и детектора, толщины и положения ОК, а также энергии фотонов проникающего излучения. [44]

Вследствие рассеянного излучения атмосферы степень поглощения тонкого слоя атмосферы на высоте z не равна величине а, как этого можно было бы ожидать. [45]

Страницы: 1 2 3 4