Монохроматическое рентгеновское излучение
Cтраница 3
В методе порошка, или дсбаеграмм, используют монохроматическое рентгеновское излучение. Поскольку в порошке имеются кристаллы любой ориентации по отношению к лучу, всегда найдутся такие кристаллы, положение которых отвечает условию Вульфа - Брегга. Отраженные лучи образуют конус со строго определенным углом расхождения. При съемке рентгенограммы в методе порошка полоску фотопленки размещают вокруг образца ( в кассете) так, чтобы входящий рентгеновский луч пересекал ее по диаметру. В результате каждый конус отраженных лучей оставит на фотопленке засвеченный след в виде дужек ( рис. 5.7, б), симметрично расположенных относительно направления первичного луча. [31]
С помощью тщательных измерений порошко-грамм, снятых при монохроматическом рентгеновском излучении, Бюссем и Чейшвили показали, что фаза, образовавшаяся при дегидратации глинистых минералов, имеет е полностью нарушенную структуру: в ней сохраняются определенные участки первичной структуры, главным образом базальные плоскости, которые еще сохраняют положение, которое они имели в решетке. Такое промежуточное состояние можно трактовать как двумерную дефектную кристаллическую фазу, которая все еще вызывает характерную дифракцию рентгеновских лучей. Очевидно, имеются двумерные решетки из тетраэдров типа [ SiO4 ], показанной на фиг. [32]
 |
Принципиальная схема РЭ-спектрометра. [33] |
Рентгеноэлектронная ( РЭ) спектроскопия использует для этой цели монохроматическое рентгеновское излучение и изучает поведение и валентных и внутренних электронов. [34]
Характеристическое, или, по аналогии со световыми лучами, монохроматическое рентгеновское излучение состоит из немногих видов лучей, каждый из которых имеет определенную длину волны. [35]
Съемка рентгенограмм ( дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика ( диаметр обычно 0 5 - 0 8 мм, высота 5 - 6 мм), плоского шлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа - Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [36]
Спектрограммы поликристаллических образцов имеют наиболее простой вид при работе с монохроматическим рентгеновским излучением. Как уже объяснялось выше, при работе с монокристаллами необходимо изменять наклон образца по отношению к падающему пучку. При изучении поликристаллов это не обязательно, так как среди многочисленных кристаллов, входящих в состав образца, всегда найдутся кристаллы, ориентированные так, что выполняется условие Брегга - Вульфа. Отраженные от данной кристаллической плоскости лучи образуют конус, ось которого направлена по падающему лучу. [37]
В методе структурного анализа, разработанном Дебаем и Шере-ром, используются монохроматическое рентгеновское излучение и поликристаллические образцы. Исследуемое вещество измельчается в порошок, из которого прессуется образец в виде проволочки. [38]
 |
Интенсивность рассеяния рентгеновских лучей жидким аргоном при разных температурах и давлениях. [39] |
На рис. V, 1 изображена зависимость от угла интенсивности рассеивания монохроматического рентгеновского излучения жидким аргоном, являющимся примером простейшей одноатомной жидкости. Кривая рассеяния имеет экстремумы и повторяет в размытом виде кривую рассеяния для твердого аргона. [40]
На кристалл, за которым помещена фотопленка, направляется узкий пучок монохроматического рентгеновского излучения под углом, удовлетворяющим условию Вульфа - Брэгга. Этим пучком последовательно освещают ( сканируют) всю поверхность кристалла и затем, после проявления пленки, анализируют картину распределения интенсивности рентгеновского излучения за выходной поверхностью кристалла. Эта картина определяется различной степенью почернения пленки в различных ее участках и называется топограммой. [41]
На рис. V, 1 изображена зависимость от угла интенсивности рассеивания монохроматического рентгеновского излучения жидким аргоном, являющимся примером простейшей одноатомной жидкости. Кривая рассеяния имеет экстремумы и повторяет в размытом виде кривую рассеяния для твердого аргона. [42]
Какова постоянная кристаллической решетки у хлористого натрия ( Nad), если монохроматическое рентгеновское излучение с длиной волны 71 2 пм отражается от его естественной грани плоскости спайности. [43]
Устройство, изображенное на рис. 7, является эффективным генератором почти - монохроматических рентгеновских излучений, если в него помещать образцы из различных элементов и облучать их ренгеновским пучком, энергия квантов которого достаточна д ля возбуждения характеристических спектров. В этом случае характеристические эмиссионные спектры ряда элементов будут возбуждены рентгеновскими лучами. Каждый такой спектр может быть идентифицирован измерением массового коэффициента поглощения цм в алюминии. [44]
 |
Система координат пространства реконструкции двумерного распределения ЛКО по известным веерным ( а и параллельным ( 6 проекциям. [45] |
Страницы: 1 2 3 4