Cтраница 3
В качестве источников сплошного излучения спектра в УФ-об-ласти применяют водородные лампы типа ДВС, сеноновые, вольфрамовые лампы и др. 1В работе [34] описано применение ксенон-ртутной дуги как непрерывного источника света. [31]
![]() |
Схема взаимодействия основных узлов двухлучевого спектрофотометра. [32] |
Далее с помощью прерывателя сплошное излучение преобразуется в импульсы энергии, следующие с частотой прерывателя. Поочередно импульсы из канала образца и канала сравнения поступают ка входную щель монохроматора. Диспергирующее устройство мо-нохроматора ( призма или дифракционная решетка) разлагает световые импульсы в непрерывный спектр изображений входной щели. Вращение зеркала Литтрова осуществляет равномерную пространственную развертку спектра относительно выходной щели монохроматора. Через выходную щель монохроматизированное излучение в виде дискретных порций постоянной мощности поступает на фотоприемник, где энергия излучения преобразуется в электрический сигнал. [33]
Осветительная система спектрофотометра направляет сплошное излучение источника на кювету с, анализируемым веществом. Второй конденсор, расположенный после кюветы, собирает параллельный пучок и строит изображение источника на щели. [34]
При работе с источником сплошного излучения применяют сканирование абсорбционной линии в плоскости выходной щели монохроматора. Оно состоит из металлической планки с прямоугольным вырезом и укрепленной на отсчетном барабане длин волн. При вращении диска, укрепленного на оси редукторного двигателя ( использован двигатель от регистрирующего микрофотометра МФ-4), планка при помощи штифта, входящего в ее вырез, периодически перемещается в прямом и обратном направлении. [36]
При фотографической регистрации дифракция сплошного излучения является одной из причин, усиливающих фон, поэтому необходимо выбрать напряжение на трубке, при котором достигалось бы оптимальное соотношение между интенсивностью сплошного и характеристического излучения. Эта оптимальная величина рабочего напряжения равна 5 - 6 Ц0, В современных типах дифрактометров, регистрирующая схема которых включает амплитудные анализаторы, влияние сплошного излучения снижается, но на выбор оптимального значения напряжения это не влияет. [37]
В препаративной фотохимии часто используют сплошное излучение высокой интенсивности. С точки зрения получения большого выхода ( а не скорости) часто полезно знать спектры поглощения реагентов, а также продуктов, поскольку последние могут вступать в фотохимические реакции, если они поглощают свет источника. Чтобы избежать этого и увеличить общий выход, следует по возможности задержать ( при помощи фильтров) свет, поглощаемый продуктами. [38]
Атомно-абсорбционная спектроскопия с использованием источника сплошного излучения может быть применена для основных компонентов. Эта возможность была проверена авторами настоящего обзора на примере полупроводниковых сплавов In-Sb. Поскольку указанный сплав растворим тольг ко в смеси 1 части азотной кислоты и 3 частей соляной кислоты, распыление которой при имеющейся аппаратуре являлось нежелательным, был выбран следующий способ растворения: 0 4 г сплава растворяли в смеси из 3 мл соляной кислоты и 1 мл азотной кислоты. [39]
Необходимо обращать внимание на экранирование сплошного излучения, идущего от концов электродов. Наиболее часто применяют однолинзовый конденсор, который проектирует увеличенное изображение нужного участка спектра на щель или трехлинзовая система освещения. [40]
Чувствительность измерений при использовании источника сплошного излучения значительно ниже, чем для линейчатого. Градуировочные графики криволинейны, начиная с минимальных величин оптических плотностей. [41]
Поскольку величина атомной абсорбции для сплошного излучения при обычных для анализа спектральных ширинах щелей в среднем на два порядка меньше, чем для линейчатого, влиянием атомного поглощения на контрольный пучок света можно практически пренебречь. [42]
![]() |
Устройство для атомно - металлическую трубку с отвер. [43] |
Этот недостаток устраняется при использовании источника сплошного излучения, практическому приложению которого препятствует в настоящее время лишь необходимость применения дорогостоящей и сложной аппаратуры. [44]
В ультрафиолетовой области спектра для получения сплошного излучения применяют газовый разряд. Использовать излучение твердых тел обычно оказывается невозможным, так как для получения интенсивного свечения в ультрафиолетовой области необходимо нагреть их до температуры более высокой, чем температура плавления ( и кипения) любого вещества. [45]