Сплошное излучение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Если тебе трудно грызть гранит науки - попробуй пососать. Законы Мерфи (еще...)

Сплошное излучение

Cтраница 3


В качестве источников сплошного излучения спектра в УФ-об-ласти применяют водородные лампы типа ДВС, сеноновые, вольфрамовые лампы и др. 1В работе [34] описано применение ксенон-ртутной дуги как непрерывного источника света.  [31]

32 Схема взаимодействия основных узлов двухлучевого спектрофотометра. [32]

Далее с помощью прерывателя сплошное излучение преобразуется в импульсы энергии, следующие с частотой прерывателя. Поочередно импульсы из канала образца и канала сравнения поступают ка входную щель монохроматора. Диспергирующее устройство мо-нохроматора ( призма или дифракционная решетка) разлагает световые импульсы в непрерывный спектр изображений входной щели. Вращение зеркала Литтрова осуществляет равномерную пространственную развертку спектра относительно выходной щели монохроматора. Через выходную щель монохроматизированное излучение в виде дискретных порций постоянной мощности поступает на фотоприемник, где энергия излучения преобразуется в электрический сигнал.  [33]

Осветительная система спектрофотометра направляет сплошное излучение источника на кювету с, анализируемым веществом. Второй конденсор, расположенный после кюветы, собирает параллельный пучок и строит изображение источника на щели.  [34]

35 Перемещение пределов атомно-абсорбцион.| Запись атомного поглощения марганца ( Мп ЗТЭммк в расширенной шкале измерений ( горизонтальное пламя органического растворителя. растворы марганца в пропиловом. [35]

При работе с источником сплошного излучения применяют сканирование абсорбционной линии в плоскости выходной щели монохроматора. Оно состоит из металлической планки с прямоугольным вырезом и укрепленной на отсчетном барабане длин волн. При вращении диска, укрепленного на оси редукторного двигателя ( использован двигатель от регистрирующего микрофотометра МФ-4), планка при помощи штифта, входящего в ее вырез, периодически перемещается в прямом и обратном направлении.  [36]

При фотографической регистрации дифракция сплошного излучения является одной из причин, усиливающих фон, поэтому необходимо выбрать напряжение на трубке, при котором достигалось бы оптимальное соотношение между интенсивностью сплошного и характеристического излучения. Эта оптимальная величина рабочего напряжения равна 5 - 6 Ц0, В современных типах дифрактометров, регистрирующая схема которых включает амплитудные анализаторы, влияние сплошного излучения снижается, но на выбор оптимального значения напряжения это не влияет.  [37]

В препаративной фотохимии часто используют сплошное излучение высокой интенсивности. С точки зрения получения большого выхода ( а не скорости) часто полезно знать спектры поглощения реагентов, а также продуктов, поскольку последние могут вступать в фотохимические реакции, если они поглощают свет источника. Чтобы избежать этого и увеличить общий выход, следует по возможности задержать ( при помощи фильтров) свет, поглощаемый продуктами.  [38]

Атомно-абсорбционная спектроскопия с использованием источника сплошного излучения может быть применена для основных компонентов. Эта возможность была проверена авторами настоящего обзора на примере полупроводниковых сплавов In-Sb. Поскольку указанный сплав растворим тольг ко в смеси 1 части азотной кислоты и 3 частей соляной кислоты, распыление которой при имеющейся аппаратуре являлось нежелательным, был выбран следующий способ растворения: 0 4 г сплава растворяли в смеси из 3 мл соляной кислоты и 1 мл азотной кислоты.  [39]

Необходимо обращать внимание на экранирование сплошного излучения, идущего от концов электродов. Наиболее часто применяют однолинзовый конденсор, который проектирует увеличенное изображение нужного участка спектра на щель или трехлинзовая система освещения.  [40]

Чувствительность измерений при использовании источника сплошного излучения значительно ниже, чем для линейчатого. Градуировочные графики криволинейны, начиная с минимальных величин оптических плотностей.  [41]

Поскольку величина атомной абсорбции для сплошного излучения при обычных для анализа спектральных ширинах щелей в среднем на два порядка меньше, чем для линейчатого, влиянием атомного поглощения на контрольный пучок света можно практически пренебречь.  [42]

43 Устройство для атомно - металлическую трубку с отвер. [43]

Этот недостаток устраняется при использовании источника сплошного излучения, практическому приложению которого препятствует в настоящее время лишь необходимость применения дорогостоящей и сложной аппаратуры.  [44]

В ультрафиолетовой области спектра для получения сплошного излучения применяют газовый разряд. Использовать излучение твердых тел обычно оказывается невозможным, так как для получения интенсивного свечения в ультрафиолетовой области необходимо нагреть их до температуры более высокой, чем температура плавления ( и кипения) любого вещества.  [45]



Страницы:      1    2    3    4    5