Сплошное излучение

Cтраница 4

Схема плазматрона для.| Совмещенный график для определения Мп в различных сплавах с помощью плазматрона. Сплавы. / - Fe. 2 - №. 3 - А1. 4 - Zn. 5 - Си. [46]

Существенным недостатком плазматрона является большая интенсивность сплошного излучения, что обусловлено высокой плотностью электронов и ионов. Много неудобств в работе создает сильный шум во время горения плазменной дуги. [47]

Кроме того, необходимо пользоваться источником сплошного излучения с достаточно высокой мощностью светового потока, так как в противном случае невозможно измерить столь малое количество энергии, которое заключено в узком участке спектра протяженностью 0 01 А. [48]

Определение магния в азотнокислом стронции.| Градуировочный гра - [ IMAGE ] Повышение разрешающей. [49]

Атомно-абсорбционный метод анализа с применением источника сплошного излучения можно сравнить с методом молекулярной спектрофотометрии, поскольку оба метода используют одну и ту же аппаратуру: монохроматор с фото-злектрической регистрацией излучения и водородную лампу. [50]

Атомное поглощение измерено с использованием источника сплошного излучения. [51]

Температура вольфрамового шарика или какого-либо иного источника сплошного излучения определяется обычно оптическим пирометром. Пирометр калибруется в красной области спектра по излучению черного тела при данной температуре; экстраполяция к более высоким температурам производится по законам излучения черного тела. Так как вольфрам не является абсолютно черным телом, температура, измеряемая пирометром, значительно ниже истинной, но поскольку как при измерении оптическим пирометром, так и в методе обращения линии натрия существенны яркостные температуры, то в первом приближении это обстоятельство несущественно. Кроме того, необходимо учитывать зависимость излучательной способности вольфрама от длины волны [188]; однако соответствующая поправка очень мала. Если пирометр направлен непосредственно на вольфрамовый шарик, то при измерении может иметь место ошибка порядка 5 С, обусловленная ослаблением яркости источника света за счет потерь на отражение в линзе Lt; эту погрешность можно устранить, - вводя между вольфрамом и оптическим пирометром соответствующее количество стеклянных поверхностей; ее можно также учесть, вычислив поправку на отражение. [52]

Из табл. 11 следует, что источник сплошного излучения в сочетании с монохроматором низкой разрешающей силы при распылении водных растворов элементов в воздушно-пропа-новое пламя может применяться лишь к определению элементов, присутствующих в анализируемых объектах в больших концентрациях. К объектам этого типа относятся сплавы, рудные концентраты, промежуточные продукты технологических процессов. [53]

Повышение чувствительности обнаружения элементов при использовании источника сплошного излучения и монохрома-тора низкой разрешающей силы было достигнуто применением горизонтального пламени аэрозоля органического растворителя. Результаты, полученные при распылении в это пламя растворов магния, меди и марганца в органических растворителях, приведены в табл. II. Из рассмотрения их следует, что при использовании пламени аэрозоля органического растворителя и расширения шкалы измерительного прибора чувствительность обнаружения элементов повышается до величины в среднем порядка 1 мкг / мл. [54]

Абсорбционный спектр меди, полученный на дифракционном спектрографе ДФС-13 ( источник сплошного излучения. / - спектр сплошного излучения водородной лампы. 2 -тот же участок спектра при распылении в пламя раствора меди. [55]

Показана возможность применения спектрографа ДФС-13 и источника сплошного излучения для разработки фотографических атомно-абсорбционных методов одновременного определения многих элементов. [56]

Таким образом, можно объяснить относительно малую интенсивность сплошного излучения в холодном пламени, в послесвечении и в пламени при низком давлении, полученном Кондратьевым, температура которого также сравнительно невысока из-за близости стенок сосуда. [57]

Для получения спектров поглощения веществ необходимо иметь источник сплошного излучения. Анализируемая проба вводится не в источник, а в световой поток между источником и спектральным аппаратом. Поэтому требования к самим источникам света при абсорбционном анализе очень просты. [58]

Следует еще раз отметить, что применение источников сплошного излучения при фотоэлектрических измерениях атомной абсорбции вместо источников линейчатых спектров, за исключением некоторых задач специального характера ( качественное исследование спектров поглощения, измерение интегрального поглощения и пр. Ранее ( § 6) было показано, что подобная замена влечет за собой значительную потерю чувствительности измерений, а также существенное ослабление концентрационной зависимости абсорбции даже при малых оптических плотностях. [59]

Изложенные выше варианты атомно-абсорбционного анализа с применением источника сплошного излучения рассчитаны на регистрацию только одной линии. Одним из возможных путей устранения этого недостатка является фотографирование спектра сплошного излучения и линий атомного поглощения, расположенных на его фоне, с помощью дифракционного спектрографа высокой разрешающей силы. Предварительные исследования в этом направлении проведены на спектрографе ДФС-13. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5