Степень - совершенство - кристалл - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Мы не левые и не правые, потому что мы валенки Законы Мерфи (еще...)

Степень - совершенство - кристалл

Cтраница 2


Подобно тому, как это имело место у многих других полупроводников, максимальная величина подвижностей электронов и дырок в теллуре благодаря постепенному повышению чистоты и степени совершенства кристаллов все время растет.  [16]

В последнее время начали широко применяться методы ] Гвыра-щивания монокристаллов из высокотемпературных растворов ( которые часто называют растворами-расплавами), что связано с многими известными их достоинствами ( снижение температуры выращивания, снижение температурных напряжений в кристаллах, увеличение степени совершенства кристаллов и др.) - Однако преимущества этих новых методов могут быть реализованы лишь после решения ряда специфических задач, которые характерны для методов выращивания из растворов-расплавов, иначе, для ношотермических методов выращивания из растворов-расплавов, связанных с постепенным сравнительно медленным охлаждением материнского раствора.  [17]

18 Зависимость деформации от времени облучения при Т 120 С. Обозначения кривых те же, что и на 113.| Рост монокристалла урана в направлении во время облучения при ПО и 425 К. [18]

Нестабильность радиационно-индуцированных изменений размеров урановых образцов, облученных малыми дозами, проявляется также в эффекте возврата деформации радиационного роста при послерадиационном отжиге. Величина возврата зависит от степени совершенства кристаллов. Согласно этим данным, отжиг вплоть до 500 К после облучения от 10 до 20 К вызывает менее 7 % возврата для монокристаллических образцов и около 16 % для поликристаллов.  [19]

Важным параметром рассеяния является отношение величин интегрального прохождения и отражения. При экспериментальных исследованиях это отношение может служить приближенным критерием степени совершенства рассеивающего кристалла.  [20]

Наконец, Кнапп26 и Мей и Кольтгоф 18 рассмотрели влияние электрического заряда поверхности и пришли к выводу, что с уменьшением размера частиц растворимость сначала увеличивается, проходит через максимум и затем снова падает. Известно, что заряд поверхности изменяется в зависимости от условий осаждения и даже от степени совершенства кристаллов; следовательно, было бы ошибочным считать, что максимальная растворимость соответствует определенному размеру частиц данного осадка.  [21]

Кривая диэлектрической проницаемости е ( рисунок) имеет свой обычный вид. Интегральная интенсивность IQQTT в некотором интервале температур 1 - 0 01, в зависимости от степени совершенства кристалла, имеет аномалию.  [22]

Геометрия К-линий, очевидно, отражает ориентацию кристалла и показывает симметрию эквивалентных рядов атомных плоскостей. Когда дифракционную картину получают с помощью тонкого пучка электронов, порождающего рентгеновские лучи или рассеянные небольшой областью кристаллического образца электроны, это дает чувствительный метод определения изменений ориентации или степени совершенства кристалла.  [23]

Правомерность гипотез о вакансионном механизме образования дислокаций автор подвергает сомнению и предполагает, что вакансии могут лишь способствовать переползанию дислокаций и выстраиванию их в сетки, а избыточные вакансии, возникающие при охлаждении, будут частично поглощаться дислокациями и частично выходить на границу раздела фаз. Степень совершенства кристаллов зависит от плотности и характера дислокаций и других дефектов ( трещин, царапин) на поверхности затравки. Применяя бездефектные бездислокационные затравки, удалось вырастить монокристаллы Si без дислокаций.  [24]

На рис. 8 - 2 представлены некоторые электронные микрофотоснимки осадков сульфата бария [16] и диметилглиоксимата никеля [26], образующихся при различных условиях. Совершенно очевидно, что размер и форма частиц осадка могут значительно изменяться в зависимости от природы осадка и от способа осаждения. Степень совершенства кристаллов одного размера тоже может изменяться в зависимости от условий. Оценка величины частиц посредством линейных размеров может оказаться ошибочной.  [25]

При выращивании монокристаллов InSb из сформированного стержня, диаметр которого равен диаметру контейнера, необходимо непрерывно изменять угол наклона контейнера к горизонту, в связи с тем, что диаметр получаемого монокристалла с хорошей поверхностью - на 0 2 - 0 3 мм меньше диаметра исходного слитка. Поэтому по мере продвижения нагревателя при постоянном угле наклона объем пустоты над расплавленной зоной постепенно уменьшается, свободная полость перед фронтом кристаллизации исчезает - монокристалл формируется точно по внутреннему диаметру контейнера. При этом огранка исчезает, степень совершенства кристалла или резко ухудшается, или рост монокристалла прекращается совсем. В данном случае кристаллизация происходит аналогично обычному методу Бриджмена.  [26]

Начиная с низких температур, теплопроводность растет с температурой, пока не достигнет максимального значения. Этот максимум на кривой является характерной особенностью всех неметаллических кристаллов ( ср. Температура максимума зависит от размера кристаллитов и степени совершенства кристаллов.  [27]

28 Кристаллич. решетка графита ( природного цейлонского. А, В углеродные слои. пунктирными линиями показана элементарная кристаллич. ячейка.| Диаграмма состояния углерода. / н 2-области устойчивости соотв. графита и алмаза. 3 -область существования расплава углерода. 4-линия равновесия графнт-алмаз. 5, 6, 7, в - линии плавления соотв. графита, метастабильиого графита ( приблизит, граница существования метастабильного графита в поле алмаза, алмаза и метастабильного алмаза в поле графита ( приблизит, граница. А и В-области существования термодинамически неустойчивых алмаза и графита соответственно. [28]

На кривой температурной зависимости теплопроводности имеется максимум, положение и величина к-рого зависят от размеров и степени совершенства кристаллов.  [29]

Сейчас уже невозможно дать описание всех или даже большинства проблем, успешно решаемых дифракционными методами, однако ряд методических приемов структурного анализа является достаточно общим для различных областей науки и техники. Любое экспериментальное исследование должно начинаться с подробного изучения исходного объекта. По его дифракционному спектру 3 ( О) определяют атомно-кристаллическую структуру или идентифицируют ее с известной структурой эталона, изучают фазовый состав объекта, определяют размеры элементарной ячейки. В случае монокристаллических образцов определяют ориентацию и степень совершенства кристалла, для поликристаллов бывает важным знание размеров зерен и наличия текстуры.  [30]



Страницы:      1    2    3