Влияние - матрица - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Женщина верит, что дважды два будет пять, если как следует поплакать и устроить скандал. Законы Мерфи (еще...)

Влияние - матрица

Cтраница 3


Влияние матрицы на энергетические уровни и, следовательно, на наблюдаемые электронные и колебательные переходы двухатомной молекулы можно описать ( аналогично рассмотренному выше случаю) как возмущение матричной клеткой потенциала молекулы, совершающей гармонические колебания.  [31]

32 Распределение бора в ЗЮг. [32]

На интенсивность спектра вторичных ионов сильно влияет матрица; даже незначительные загрязнения поверхности металла кислородом, хлором, фтором уменьшают интенсивность сигнала вторичных ионов на несколько порядков. Частично влияние матрицы ослабляют, предварительно насыщая поверхность кислородом или применяя ионы кислорода в качестве первичных, - это стабилизирует эмиссию вторичных ионов.  [33]

Найденные ряды сродства ионов практически совпадают с таковыми, полученными для известных ионитов, что говорит о малом влиянии матриц. Для фосфорнокислых ионитов влияние матрицы существенное.  [34]

В связи с различной природой процессов в химических и физических слоях влияние матрицы на свойства этих слоев сильно различается. Для физических фотохромных слоев влияние матрицы на свойства слоев в основном осуществляется посредством бимолекулярных процессов безызлучательного тушения возбужденных состояний, которые зависят от скорости диффузии частиц. В жидких матрицах эти процессы приводят к сильному уменьшению времени релаксации.  [35]

Матрицы пористых мембран представляют собой пористые среды, структурными свойствами которых обусловлен процесс разделения газовой смеси. При этом в газодиффузионных мембранах влияние матрицы ограничено в основном объемом пор и функцией распределения пор по размерам. В мембранах сорб-ционно-диффузионного типа, кроме того, существенно энергетическое взаимодействие компонентов газовой смеси и матрицы, количественно определяемое адсорбционным и капиллярным потенциалами.  [36]

Применение ФИД ( лампы 10 2 и 11 7 эВ) в сочетании с ПИД позволяет идентифицировать в атмосферном воздухе микропримеси сернистых газов, а в комбинации с ЭЗД эта система дает возможность идентификации и селективного определения пестицидов. Надежность определения увеличивается после устранения влияния матрицы в процессе пробоподготовки, а Сн составляет 0 1 ррт.  [37]

Сравнительно легко это можно сделать при анализе проб с постоянным и простым составом ( по основным компонентам), как, например, при анализе некоторых материалов высокой чистоты. Однако в случае проб переменного состава учет влияния матрицы может оказаться более трудным делом.  [38]

В заключение кратко остановимся па перспективах развития ЭТА. Последние исследования были направлены на изучение механизмов влияния матрицы пробы па результаты анализа и на улучшение аналитических характеристик серийных атомизаторов.  [39]

Этот результат означает, что предположение об отсутствии поддержки матрицей неверно и что поддержка матрицей конца трещины снижает концентрацию напряжений в борном волокне. Этот вопрос будет рассмотрен ниже в связи с влиянием матрицы и волокна на разрушение, определяемое нарушением стабильности поверхности раздела.  [40]

Существуют еще две важные области, дальнейшее развитие которых представляет большое значение. Во-первых, должны быть решены проблемы идентификации матрично-изолированных частиц и влияния матрицы на изолированную частицу и ее спектр.  [41]

Электроды и плазму дуги снаружи охлаждают потоком воздуха, циркулирующим концентрически вокруг электродов, благодаря чему изменяются условия испарения и возбуждения проб, находящихся в полости электрода. Как отмечал Столлвуд [ 1а ], при этих условиях заметно снижается влияние матрицы и улучшается воспроизводимость анализа. Эффективность потока воздуха выше, если проба помещается в узкий и глубокий кратер. Кожух, окружающий электро-додержатель, вывинчивается настолько, чтобы торец кратера электрода выступал на 3 - 4 мм над краем кожуха.  [42]

Метод молекулярного наслаивания позволяет синтезировать сплошные и равномерные слои вещества заданной с предельно возможной точностью до одного монослоя толщины путем проведения необходимого числа циклов реакций МН. Экспериментальная зависимость толщины синтезированного слоя от числа циклов реакций МН вне зоны влияния матрицы носит линейный характер. Угол наклона определяет толщину монослоя, которая обусловлена, например, в случае оксидов размерами соответствующего полиэдра.  [43]

44 Схема рентгеновского спектрометра. 1-рентгеновская трубка. 1а - источник электронов ( термоэмисснонный катод. 16-мишеаь ( анрд. 2 - исследуемое в-во. 3-кристалл-анализатор. 4-регистрирующее устройство. / п - первичное рентгеновское излучение. Ау2 - вторично рентгеновское излучение. АУЗ-регистрируемое излучение. [44]

С, определяют путем сравнения интенсивности /; с аналогичными величинами / ст стандартных образцов, для к-рых известны значения концентраций Сст определяемого элемента. Метод позволяет учесть поправки, связанные с аппаратурой, однако для точного учета влияния матрицы стандартный образец должен быть близок по составу к анализируемому.  [45]



Страницы:      1    2    3    4