Влияние - паразитный параметр
Cтраница 1
Влияние паразитных параметров в квадратичных ДД оценивают примерно так же, как в ДД средних значений. [1]
Рассмотрим влияние паразитных параметров, используя эквивалентную схему транзистора. [2]
Необходимо учитывать влияние паразитных параметров схемы: междуэлектродных емкостей контактодержателей и индуктивностей вывода. Из междуэлектродных емкостей максимальное влияние имеет проходная емкость. [3]
Для уменьшения ( влияния паразитных параметров на входное сопротивление детектора, последний часто выполняется в виде выносного пробника, благодаря чему длина проводов существенно уменьшается. [4]
Однако полностью устранить влияние паразитных параметров не удается. [5]
При этом исключается влияние паразитных параметров транзистора, прежде всего емкости перехода коллектор-база, на усилительные свойства всей схемы. Дополнительно в таких схемах исключается влияние изменения величины этой емкости на свойства схемы при различных амплитудах усиливаемого сигнала, что связано с полным исключением эффекта Миллера. Во-вторых, применяются специальные пассивные корректирующие схемы, включаемые в стандартные каскады усиления, выполненные по схеме с ОЭ. [6]
 |
К определению границ К. [7] |
Для количественного определения влияния паразитных параметров, охватываемых стабилизирующим звеном, если они имеют конечные значения, их учитывают при построении Д - разбиения, определяющего границу коэффициента усиления. [8]
Эти особенности обусловлены влиянием паразитных параметров плеч и всевозможных паразитных связей элементов схемы на погрешность измерения, а также зависимостью величины измеряемого активного сопротивления от частоты. [9]
Так как в реальных цепях влияние паразитных параметров может быть существенным, рассмотрим, как влияет внутреннее сопротивление источника входных импульсов на работу укорачивающей цепи. [10]
В области верхних частот учитывают влияние паразитных параметров трансформатора и реактивных составляющих нагрузки. [12]
Значительное уменьшение погрешности, обусловленной влиянием паразитных параметров контура, достигается применением метода замещения. Работа прибора заключается в следующем. [13]
Эта схема в наибольшей степени подвержена влиянию паразитных параметров. Влияние последовательных и параллельных импедан-сов соединительных элементов может быть уменьшено путем сокращения размеров присоединительной цепи или созданием присоединительных устройств жесткой конструкции, как это, например, реализовано в прецизионной емкостной измерительной системе 1621 фирмы Gen Rad ( США), в которой измеряемая мера емкости может непосредственно присоединяться к двухзажимно-му коаксиальному разъему. [14]
 |
Упрощенная схема куметра. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5