Cтраница 4
Настройка толщиномеров состоит в установке нуля ( нижнего предела) и верхнего предела шкалы по соответствующим контрольным образцам путем регулировки компенсирующих устройств и чувствительности измерительного канала. Параллельно с этим проводится отстоика от влияния мешающих факторов на показания прибора. [46]
Настройка толщиномеров состоит в установке нуля ( нижнего предела) и верхнего предела шкалы по соответствующим контрольным образцам путем регулирования компенсирующих устройств и чувствительности измерительного канала. Параллельно с этим проводится отстройка от влияния мешающих факторов на показания прибора. [47]
В случае решения однопараметровых задач используют амплитудный метод контроля, отличающийся простотой аппаратурной реализации, когда непосредственно измеряется величина, связанная с напряженностью поля ( с мощностью) отраженного, прошедшего или рассеянного излучения. Амплитудный метод применим в тех случаях, когда влияние мешающих факторов по сравнению с измеряемым невелико и появляющейся за счет них погрешностью можно пренебречь. [48]
Таким образом, постоянные напряжения на выходе детекторов 4 и 5 пропорциональны проекциям вектора сигнала на два взаимно перпендикулярных направления. Используя фазовый регулятор 6, можно добиться, чтобы под влиянием мешающего фактора светящаяся точка на экране ЭЛТ смещалась по одной из осей, тогда изменение контролируемого параметра может быть учтено смещением точки по другой оси. Таким образом, в данном случае на экране ЭЛТ отображается комплексная плоскость сигналов ВТП. [49]
Таким образом, постоянные напряжения на выходе детекторов 4 и 5 пропорциональны проекциям вектора сигнала на два взаимно перпендикулярных направления. Используя фазовый регулятор б, можно добиться, чтобы под влиянием мешающего фактора светящаяся точка на экране ЭЛТ смещалась по одной из осей, тогда изменение контролируемого параметра может быть учтено смещением точки по другой оси. Таким образом, в данном случае на экране ЭЛТ отображается комплексная плоскость сигналов ВТП. [50]
Влияние мешающего фактора можно уменьшить за счет использования комплексного ( двухпараметрового) сигнала, включив ВТП в резонансный контур. Подбирая емкость конденсатора и сопротивление резистора, подключаемых последовательно или параллельно обмотке ВТП, можно добиться ослабления влияния мешающего фактора. [51]
Влияние мешающего фактора можно уменьшить за счет использования комплексного ( двухпараметрового) сигнала, включив ВТП в резонансный контур. Подбирая емкость конденсатора и сопротивление резистора, подключаемых последовательно или параллельно обмотке ВТП, можно добиться ослабления влияния мешающего фактора. На рис. 46, а показаны комплексные плоскости сопротивления параметрического преобразователя Z и тока / в его обмотке. Стандартный образец характеризуется точкой А. Если точку компенсации К поместить на пересечении нормали в точке А к линии влияния рп и оси ординат, то при изменении рп вектор тока / в цепи, состоящей из последовательно соединенных ВТП, конденсатора С и резистора Дд ( рис. 46, б), описывает дугу окружности, если линия влияния рп - прямая. [52]
Влияние мешающего фактора можно уменьшить за счет использования комплексного ( двухпараметрового) сигнала, включив ВТП в резонансный контур. Подбирая емкость конденсатора и сопротивление резистора, подключаемых последовательно или параллельно обмотке ВТП, можно добиться ослабления влияния мешающего фактора. [53]
Аттестованное значение СО устанавливают на основе обработки результатов измерений аттестуемой характеристики со, полученных в лабораториях-участницах межлабораторной аттестации. Перед статистической обработкой результатов аттестации разработчик СО осуществляет анализ полученных данных, в процессе которого проверяется правильность воспроизведения метода испытания, учет влияния мешающих факторов. Если результаты получены с применением различных МВИ, то рассматривается также независимость результатов и их место в интервале допустимого разброса результатов, который устанавливается с учетом характеристик погрешности аттестованных или стандартизированных методик выполнения измерений. [54]