Cтраница 4
Аналогичное расщепление простых по схеме линий на несколько компонент встречается у многих элементов. Паули впервые предложил искать объяснение сверхтонкой структуре спектральных линий в отступлении поля атомного ядра от поля точечного заряда. [46]
Методы измерения разрешающей способности решеток сводятся к определению разности длин волн двух близко расположенных спектральных линий приблизительно равной интенсивности, находящихся на пределе разрешения. Чаще всего разрешающую способность оценивают по наблюдениям сверхтонкой структуры спектральных линий кадмия и ртути, некоторых групп линий спектра железа или полос поглощения паров иода, а также по расщеплению спектральных линий в магнитном поле. Однако выбор линий, пригодных для этих целей, очень ограничен, а процедура измерения при высоких разрешениях достаточно сложна. На точность измерений этими методами влияют не только ошибки решетки, но и аберрации оптической системы спектрографа, а также естественная ширина контура линии. Кроме того, с ростом фокусного расстояния спектрографа возрастает влияние колебаний воздуха и отдельных элементов системы, что создает дополнительные трудности при наблюдениях и снижает их точность. При наиболее благоприятных условиях измерений относительная ошибка определения разрешающей способности составляет 5 - 10 %, что в некоторых случаях недостаточно для характеристики решетки по этому параметру. Поэтому непосредственные наблюдения спектральных линий дополняются исследованиями формы фронта дифрагированной волны теневым и интерференционным методами, которые взаимно дополняют друг друга. [47]
При еще более высоком разрешении спектрометра удается исследовать структуру спектральных линий, обусловленную модействиями между ядрами в молекуле ( спин-спиновое расщепление), что дает дополнительную информацию о структуре молекул и твердых тел. [48]
Момент количества движения ядра атома в классификации термов не учитывается. Различные значения этого момента проявляются лишь в сверхгонкой структуре спектральных линий. [49]
Уникальной чувствительностью обладают измерит, устройства, использующие интерференцию света. Интерферометры, широко применяют для измерений длин воли а изучения структуры спектральных линий, определения показателей преломления прозрачных сред, абс. [50]
Условия, при выполнении которых допустимо с достаточной для практических целей точностью использовать подобное приближение, будут более подробно обсуждены в разд. Предварительно, однако, необходимо обсудить более подробно вопрос о структуре спектральных линий, излучаемых и поглощаемых атомами в реальных условиях. [51]
Из этих формул следует, что величина свободного спектрального интервала очень мала: при t 5 мм и А 5000 А ДА 0 25 А. Такие приборы приспособлены для исследования очень узких спектральных участков, например структуры спектральных линий. Если необходимо исследовать участок спектра, значительно превосходящий свободный спектральный интервал, то обнаруживается переналожение большого количества порядков спектра, из которых каждый дает свой спектральный участок. Это является серьезным затруднением в интерпретации спектра, получаемого с интерферометром. [52]
Для измерений длин волн обычно пользуются фотографической реги страцией спектра. Фотоэлектрическая регистрация для измерения длин волн применяется редко, главным образом при изучении структуры спектральной линии, когда измеряются малые смещения ДА, одной линии относительно другой. [53]
Каждому изотопу, входящему в состав данного элемента, отвечает одна или несколько компонент в разрешенной структуре спектральной линии. Интенсивность компонент, принадлежащих данному изотопу, увеличивается с ростом концентрации изотопа. При помощи спектрального анализа могут выполняться как качественные, так и количественные определения изотопного состава природных элементов или искусственно обогащенных проб. [54]
В принципе изотопный спектральный анализ не отличается от обычного элементного спектрального анализа. Качественный анализ производится по наличию или отсутствию соответствующих спектральных компонент, принадлежащих тем или иным изотопам в структуре спектральной линии. При обнаружении компоненты того или иного изотопа однозначно решается вопрос о его присутствии. Необходимо отметить, что отсутствие изотопической компоненты еще не говорит об отсутствии изотопа в исследуемой пробе, поскольку данный изотоп может содержаться в концентрациях, меньших, чем чувствительность данного метода изотопного анализа. Чувствительность изотопного анализа зависит от выбора спектральной линии, от расстояния между компонентами изотопической структуры и их взаимного наложения и от применяемой аппаратуры. [55]