Структура - тонкая пленка
Cтраница 1
Структура тонких пленок - В кн.: Физика конденсированного состояния. [1]
Структура тонких пленок, полученных путем термовакуумного напыления, зависит от температуры испаряемого материала. С точки зрения влияния этого фактора, все металлы распределяются на три группы. [2]
Структура тонких пленок определяется в первую очередь температурой плавления испаряемого металла; этот параметр следует выдерживать в процессе производства в заданных пределах. Контроль структуры может быть выполнен с помощью электронной дифракции и электронной микроскопии. [3]
На структуру тонких пленок независимо от способа их получения существенное влияние оказывают температура подложки при испарении, степень вакуума, свойства испаряемых металлов и свойства материала подложки. [4]
Для изменения структуры тонких пленок, расширения их возможностей и корректировки свойств тонкопленочных элементов широко используются методы электрохимической и термохимической обработки. [5]
Хорошо известно, что структуры тонких пленок и массивных образцов не обязательно совпадают. [6]
 |
Схема взаимодействия. [7] |
Рассмотрим как они влияют на структуру тонких пленок. [8]
 |
Изменение распределения осей кристаллов полипропилена около оси текстуры в процессе термостарения. [9] |
В табл. 2 приведены результаты исследования структуры тонких пленок из стабилизированного полипропилена. [10]
В нескольких работах [1-3] затронуты вопросы структуры тонких пленок InAs, полученных сэндвич-методом в парах воды. Однако в литературе отсутствуют данные об электрических свойствах этих пленок. [11]
 |
Дислокационная с i рук i ура корро-зношю-с i ойкой с i a. in ( x 33 000. [12] |
Плотность дислокации определяют также непосредственно изучая структуру тонких пленок MCI алла на просвет в электронном микроскопе. На рис. 13 показаны следы травления дислокаций, расположенных по границам блоков железа. Подсчитывая число таких точек, определяют плотность дислокаций. [13]
Плотность дислокаций определяют, также непосредственно изучая структуру тонких пленок металла на просвет в электронном микроскопе. [14]
Экспериментальные данные позволяют сделать некоторые выводы о структуре тонких пленок и роли отдельных факторов, влияющих на ход технологического процесса получения пленок с определенными свойствами. [15]
Страницы: 1 2 3