Структуроскоп
Cтраница 3
Качество термообработки изделий из ферромагнитных и неферромагнитных сплавов, имеющих однозначную связь электромагнитных и механических характеристик, контролируют высокочастотным структуроскопом типа ВС-ЗОНП. [31]
Схемы ТВА включают устройства формирования оптических изображений объекта, телевизионную систему и устройство обработки видеосигнала, выполняемого на базе встроенных в структуроскоп микропроцессора или с помощью внешней ЭВМ. [32]
Схемы ТВА включают устройства формирования оптических изображений объекта, телевизионную систему и устройство обработки видеосигнала, выполняемого на базе встроенных в структуроскоп микропроцессора или с помощью внешней ЭВМ. В состав математического обеспечения обычно входят программы, обеспечивающие автоматический поиск объектов, контурное слежение и построчное сканирование в пределах заданного контура, а также вычисление необходимых статистических характеристик объектов. [33]
ВС-10П, широкое применение этого прибора в промышленности, в частности для контроля твердости поршневых пальцев на заводах автотракторной промышленности, сдерживалось вследствие нестабильности показаний структуроскопа, связанной с недостаточной точностью установки контролируемого изделия относительно оси проходного вихретокового преобразователя и краев магнитопровода измерительной катушки в производственных условиях, а также необходимости обеспечить минимально допустимое время выдержки поршневого пальца в преобразователе в процессе контроля при максимальной производительности. [34]
 |
Увеличение потерь при возрастания частоты питающего тока. [35] |
Оценка состояния тонких поверхностных слоев деталей из ферромагнитных материалов, подвергнутых механической обработке или поверхностному упрочнению: наклепу, химико-термической обработке, закалке ТВЧ, осуществляется структуроскопами с накладными датчиками, питаемыми током частотой от нескольких сотен герц до 1 - 2 мгц. [36]
Несмотря на высокие технические характеристики структуроскопа, широкое применение этого прибора в промышленности, в частности для контроля твердости поршневых пальцев на заводах автотракторной промышленности, сдерживалось вследствие нестабильности показаний структуроскопа, связанной с недостаточной точностью установки контролируемого изделия относительно оси проходного вихретокового преобразователя и краев магнитопровода измерительной катушки в производственных условиях, а также необходимости обеспечить минимально необходимое время выдержки поршневого пальца в преобразователе в процессе контроля при максимальной производительности. [37]
В настоящее время существует более 10 типов приборов, принцип действия которых основан на использовании этого эффекта. Многофункциональные структуроскопы разработаны в США ( Стресскан фирмы AST), в институте прикладной физики АН Республики Беларусь. Они снабжены микропроцессором, большим набором преобразователей, универсальны и способны решать многие задачи контроля. [38]
Вихретоковая структуроскопия изделий из неферромагнитных электропроводящих материалов основана на измерении и оценке изменений удельной электрической проводимости. Поэтому структуроскопы для контроля объектов из неферромагнитных материалов часто называют измерителями или испытателями удельной электрической проводимости. [39]
Вихретоковая структуроскопия изделий из неферромагнитных электропроводящих материалов основана на измерении и оценке изменений удельной электрической проводимости. Поэтому структуроскопы для контроля объектов из неферромагнитных материалов часто называют измерителями или испытателями удельной электрической проводимости. Удельная электрическая проводимость металлических материалов определяется температурой и относительной концентрацией исходных элементов. Возможны измерения под диэлектрическим слоем толщиной до 0 3 мм. В этих приборах используются трансформаторные ВТП. [40]
Структуроскопия изделий из неферромагнптных электропроводящих материалов основана на измерении и оценке изменений удельной электрической проводимости. Поэтому Структуроскопы для контроля изделий из неферромагнит-ных материалов часто называют измерителями или испытателями удельной электрической проводимости. [41]
Вихретоковая структуроскопия изделий из неферромагнитных электропроводящих материалов основана на измерении и оценке изменений удельной электрической проводимости. Поэтому структуроскопы для контроля объектов из неферромагнитных материалов часто называют измерителями или испытателями удельной электрической проводимости. Удельная электрическая проводимость металлических материалов определяется температурой и относительной концентрацией исходных элементов. Возможны измерения под диэлектрическим слоем толщиной до 0 3 мм. В этих приборах используются трансформаторные ВТП. [42]
Структуроскопами можно выявлять неоднородные по структуре зоны, оценивать глубину и качество механической, термической и химико-термической обработки на разных стадиях технологического процесса. С помощью структуроскопов можно определять и степень механических напряжений, выявлять зоны усталости, контролировать качество поверхностых слоев. [43]
Индукционные приборы, например измерители электрической проводимости, обеспечивают локальное измерение удельной электрической проводимости на участке диаметром 12 - 15 мм. Установка датчика индукционного структуроскопа на контролируемую поверхность материала требует всего 2 - 3 сек. [44]
Осциллографический блок используют для настройки аппаратуры и визуального наблюдения за изменением формы и величины сигнала. Наибольший интерес в структуроскопе представляет блок автоматики, который позволяет использовать прибор для контроля структуры металла и марки стали в автоматических линиях. Блок вырабатывает до трех селекторных импульсов, с помощью которых из напряжения сигнала в выбранной фазе выделяется часть напряжений, равная по длительности селекторному импульсу и пропорциональная по величине мгновенному значению напряжения сигнала. [45]
Страницы: 1 2 3 4