Сфера - отражение
Cтраница 2
А), сечение сферы отражения ( В) и схема рентгенограммы ( С), поясняет происхождение крестиков. [16]
 |
Кинематическая схема автоматического линейного дифрактометр-а. [17] |
Окружность / является сечением сферы отражения сеткой обратной решетки, лежащей в плоскости X Y; G - центр этого сечения и одновременно ось вращения столика с кристаллом и ось вращения столика, несущего держатель счетчика / /; О - ось вращения обратной решетки. С этой осью связана система из рычага / / / и тяги IV; ползун А позволяет сместить тягу в любую точку на рычаге. [18]
 |
Схема рентгеносъемки по методу вращения ( а и рентгенограмма вращения монокристалла кварца вокруг оси с ( б. [19] |
Пересечение узлов обратной решетки сферой отражений порождает селективные максимумы, располагающиеся на горизонтальных линиях рентгенограммы вращения. Эти горизонтальные линии перпендикулярны к оси вращения кристалла и называются слоевыми линиями. Линия, лежащая в одной плоскости с первичным пучком рентгеновских лучей, называется нулевой слоевой линией. Все остальные линии нумеруются по мере удаления от нулевой слоевой линии. В зависимости от того, выше или ниже нулевой слоевой линии лежит линия с номером / г, она имеет знак плюс или минус. [20]
Точка С - проекция центра сферы отражения на рассматриваемую плоскость, tij и п2 - векторы обратной решетки, соответствующие действующим отражениям в двух кристаллах; оо и ЬЬ - соответствующие зоны Бриллюэна. [21]
Первичный пучок всегда является диаметром сферы отражения. [22]
 |
Происхождение слоевых линий. а - I рода. б - II рода.| Цилиндрические координаты. [23] |
Пересечение узлов обратной решетки со сферой отражения при вращении соответствует появлению большого количества рефлексов на рентгенограмме. Из рис. 120, а видно, что узлы обратной решетки, находящиеся на плоскостях обратной решетки, перпендикулярных оси вращения, пересекают сферу по широтным линиям. [24]
Конус отражений, возникающий от пересечения сферы отражения с плоскостью обратной решетки при ее вращении, проецируется на пленку А В; DX - ось кристалла, которая первоначально была параллельна первичному пучку. [25]
 |
Схема получения неискаженной фотографии я-ной сетки обратной. [26] |
Каждый узел обратной решетки пересекает поверхность сферы отражения дважды - при входе в нее и при выходе из нее. В обоих случаях луч идет в одну и ту же точку рентгенограммы: пленка вращается вместе с решеткой. [27]
Возможны такие случаи, когда на поверхность сферы отражения попадают одновременно два узла обратной решетки. Это приводит к изменению амплитуды, а следовательно, и интенсивности измеряемого отражения pqr, причем она может оказаться как пониженной, так и повышенной. [28]
Каждая восьмеркообразная кривая является изображением следа пересечения сферы отражения с конусом определенного раствора р, направленным вдоль оси вращения. Поэтому эти кривые можно назвать кривыми pconst. Кроме кривых p const сетка, изображенная на рис. 201, содержит второе семейство кривых cp const. Пересечение сферы плоскостью дает окружность. Совокупность лучей, проведенных из центра сферы отражения через все точки окружности, дает на пленке кривую, по виду напоминающую эллипс. [29]
Сетка вращается вокруг оси 00п и пересекает сферу отражения по плоскости АВ. Этим удовлетворяется третье из отмеченных выше условий. В соответствии со вторым условием оси вращения кристалла и кассеты должны быть параллельны, а угловые скорости - одинаковы. Наконец, первое условие означает, что схемы, изображенные на рис. 233, а и б, должны быть подобны: если А - расстояние между осями вращения кристалла и кассеты, a DK - расстояние от кристалла до плоскости кассеты, то отношение A / DK должно совпадать с отношением GC / GGn, где GC - расстояние между центром сферы и осью обратной решетки, a GGn - между экваториальной плоскостью и плоскостью сетки. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5