Изменение - ширина - линия
Cтраница 1
Изменение ширины линии в зависимости от температуры может дать полезные сведения относительно температур переходов в твердом состоянии. [1]
Изменение ширины линий очень важно, поскольку оптическая плотность линии сильно зависит от ширины пучка ионов. При сравнении узких и широких линий необходимо, следовательно, иметь возможность учета этого эффекта. Пик ионной плотности, скорректированный по отношению к фону, умножается на ширину профиля линий при процентном уровне пропускания, эквивалентном половине пика ионной плотности. Этот метод является приближенным; для более полных оценок надо каждую точку профиля оптической плотности линии оценить при помощи разных участков калибровочной кривой. Но даже эта методика не всегда приемлема, поскольку большинство калибровочных функций получено при максимальной плотности линий и едва ли учитывает постоянство ширины линий, в то время как в действительности они содержат некоторую информацию о ширине. [2]
Изменение ширины линий по мере увеличения продолжительности механической обработки, так же как и для ионных кристаллов, не подчиняется линейной зависимости. Для выделения вклада инструментального уширения в экспериментально измеренную ширину линии в качестве эталонного образца был выбран образец кремния ручного помола ( отожжен в вакууме при 600 С в течение 50 часов), обладающий минимальными значениями ширины линий. Зачастую измерение двух одноименных линий разных порядков отражения экспериментально трудно выполнимо: на рентгенограммах кубических кристаллов наблюдается два порядка отражения только от некоторых плоскостей, так как в линиях высших порядков, как правило, происходит наложение интерференции с различными индексами. В связи с этим, весьма привлекательна возможность использования рентгеновских линий из различных отражающих плоскостей. Согласно Ивероновой В.И. [6], задача решается графически, если сделать два предположения: 1) средний размер блоков D не зависит от индексов ( hkl) рассматриваемых направлений и 2) для напряжения о выполняется соотношение о ЕЬ k 1 Eh k i const. Предположения о равноосности блоков и выполнение последнего соотношения для различных направлений в деформированных кристаллах достаточно естественны, особенно для кристаллов с такой высокой симметрией, как кремний. D рентгеновских линий с различными индексами существенно расширяет возможности метода, так как позволяет вовлечь в анализ дополнительные экспериментальные данные, получение которых достаточно легко осуществить и, таким образом, уменьшить экспериментальные погрешности. [3]
Изменения ширины линии могут быть вызваны асимметричной сольватацией. Этот эффект имеет совершенно другую природу, поскольку теперь движение обусловлено флуктуациями растворителя, причем одна группа молекул растворителя координируется вокруг одного из заместителей, а другая группа ре-лаксирует вокруг другого заместителя. Добавки электролитов при этом не оказывают влияния на ширины линий, так что становится совершенно ясно, что эффект обусловлен только растворителем и не связан с катионами. [4]
При этом изменение ширины линии по глубине образцов становится немонотонным. Максимальная ширина линии ( см. рис. 4) наблюдается не на самой поверхности, а в более глубоком слое меди. В поверхностном слое ( - 0 3 мкм) она значительно меньше и по величине приближается к значению р в объеме металла. Характерно, что наибольшее уменьшение ширины линии фиксируется для кристаллографических плоскостей с меньшей суммой индексов ( 200), что указывает на связь изменения ширины с размером когерентно-рассеивающих блоков. [6]
 |
Спектр ЭПР радикала. [7] |
Из рисунка видно изменение ширины линий вдоль спектра и, как следствие, его небольшая несимметричность. [8]
 |
Распределение радикалов в замороженных растворах кислот. [9] |
В этих условиях изменение ширины линии атома водорода отражает распределение других радикалов в системе. [10]
На рис. 152 показано изменение ширины линий с температурой. В области низких температур наблюдается медленное уменьшение ширины линии, обусловленное движением метильных групп, а затем линия быстро сужается вследствие начала движения сегментов макромолекул. Очевидно, и при циклизации так же, как и при вулканизации, еще сохраняется возможность молекулярного движения достаточно больших участков цепей, но вследствие большей величины энергии активации подвижность, отличаемая в спектре ЯМР, наблюдается лишь при высокой температуре. [11]
 |
Кинетика полимеризации. [12] |
Следует отметить, что изменение ширины линий в спектрах парамагнитного резонанса является условной характеристикой глубины полимеризации. Очевидно, что способность отдельных групп к перемещениям и глубина полимеризации ( доля неизрасходованных двойных связей) связаны неоднозначно. Возможно, что вклад в интенсивность узкой линии вносят как олигомеры, так и молекулы с большей длиной цепи, а также отдельные незакрепленные участки более длинных цепей. В то же время вклад в интенсивность широкой линии полимера могут вносить участки цепи достаточно жестко связанные, но содержащие непрореагировавшие двойные связи. [13]
Нами было исследовано также изменение ширины линии рассеяния с нагреванием 70 % - ных растворов пиридина в воде и а-пиколина в воде. Опыт показал, что по мере нагревания ширина линии рассеяния довольно быстро возрастает. У чистого пиридина также время релаксации убывает с нагреванием, но значительно медленнее. Таким образом, по мере нагревания раствора время релаксации постепенно приближается к той величине, которую имеет при данной температуре чистый пиридин. [14]
Наблюдался новый интересный эффект изменения ширины линий в спектрах ЭПР, который, однако, обусловлен не миграцией катиона, а вращением молекулы [53]; этот аспект был отмечен в разд. [15]
Страницы: 1 2 3 4