Измерение - интегральная интенсивность
Cтраница 3
Оператор с помощью пульта управления может ввести в дифрактометр исходные данные, остающиеся неизменными в течение всей съемки: способ измерения интегральной интенсивности, способ монохроматизации, способ измерения фона, время измерения фона, предельное число повторных колебаний, предельное число импульсов интегральной интенсивности, накапливаемое в пересчетном устройстве, скорость вращения кристалла, высота щели перед счетчиком. [31]
При практическом применении фотоэлектрического метода к анализу смесей ширина выходной щели монохроматора может быть взята меньше той ширины, которая необходима для измерения интегральных интенсивностей. В этих условиях получаются, конечно, не интегральные интенсивности линий и не интенсивности в максимуме, а некоторые промежуточные значения, которые можно назвать аналитическими интен-сивностями; разрешающая способность при этом соответственно повышается по сравнению с методом измерения интегральных интенсивностей. Аналитические интенсивности не дают какой-либо однозначной характеристики линий, так как зависят от ширины щели и других параметров спектральной установки. Однако это не исключает возможности их применения в практике количественного молекулярного анализа. [32]
При практическом проведении анализов смесей фотоэлектрическим методом ширина вьо: одной щели монохроматора может быть меньше той ширины, которая необходима для измерения интегральных интенсивностей. В этих условиях мы получим, конечно, не интегральные интенсивности линий и не интенсивности в максимуме, а некоторые промежуточные значения, которые можно назвать аналитическими интенсивностями; разрешающая способность при этом соответственно повысится по сравнению с применением интегральных интенсивностей. [33]
Нитрованием 3 3 ндинитродифенилсульфана в жестких условиях получены 3 3 5-тринитродифенилсульфон и 3 3, 5 5 -тетранитродифенилсульфон, строение которых доказано и по расположению полос в ИК-спектрах поглощения, и путем измерений интегральных интенсивностей полос антисимметричных валентных колебаний нитрогруппы. [34]
 |
Изучение реакции окисления СО с помощью. [35] |
Полоса при 4 27 л на спектрах виг принадлежит газообразной или физически адсорбированной СС2 или же и той и другой вместе. Измерения интегральной интенсивности показывают, что для появления этой полосы достаточно, чтобы количество физически адсорбированной С02 было порядка 0 5 % от монослоя. [36]
В епектрах ПМР нефтяных фракций сигналы представляют собой неразрешенные горбы. Поэтому погрешность измерения интегральной интенсивности е2 ( /) определяется в основном степенью искажения базовой линии и составляет, как правило, 3 - 5 % при планиметрическом способе измерения площадей и учете ослабления сигналов при их прохождении через узкополосный фильтр. Использование интегратора приводит к большим погрешностям измерения. [37]
Вследствие этого значительно снижается разрешающая способность прибора, о чем мы уже упоминали выше. Тем не менее измерение интегральных интенсивностей линий представляется весьма важным, так как именно интегральные интенсивности являются существенной теоретической характеристикой линий комбинационного рассеяния. При исследовании индивидуальных веществ гораз - до больше шансов иметь достаточно далеко отстоящие друг от друга линии, позволяющие проводить измерения интегральных интенсивностей. [38]
При фотоэлектрическом методе регистрации спектров комбинационного рассеяния измерение интенсивностей в максимуме линий значительно усложнено тем, что для подобных измерений нужно применять очень узкие щели монохроматора, а это приводит к сильному падению точности и чувствительности фотоэлектрического метода. С другой стороны, измерение интегральных интенсивностей, обеспечивая достаточную величину светового потока, падающего на фотоумножитель, требует применения широкой выходной щели. Вследствие этого значительно снижается разрешающая способность прибора, о чем уже упоминалось выше. [39]
Полосы Н2СО относительно широкие: 10 - 20 см -, что при данной интегральной интенсивности соответствует меньшей интенсивности в максимуме. Чтобы уменьшить ошибку в измерении интегральной интенсивности, спектрометр ИКС-16 был оборудован специальным устройством для увеличения масштаба записи спектра. [40]
Обычно принимают, что интегральная интенсивность линий в рентгеноэлектронном спектре пропорциональна числу атомов соответствующего элемента. Следовательно, может показаться, что по результатам измерения интегральных интенсивностей можно непосредственно проводить элементный анализ вещества. Однако даже поверхностное знакомство с опубликованными спектрами показывает, что применение на практике такого подхода не может дать удовле творительных результатов. [41]
Основной вклад в погрешность определения Сар вносит искажение базовой линии. При реально достижимом отношении S / N погрешности измерения интегральных интенсивностей в зависимости от характера и степени искажения базовой линии составляют: е ( 5 ( 115 - 150)) ж 8 ( 5 ( 5 - 70)) 5 - г - 8 % ( о ж 2 - - - г - 4 %), причем еабс ( 5 ( 115 - 150)) не менее 0 5 - 2 абс. [42]
Измерение интенсивностей линий комбинационного рассеяния практически упрощается в значительной степени благодаря тому, что нас всегда интересует лишь отношение интенсивностей линий; вследствие этого множители, общие для всех линий, не играют никакой роли. Это наиболее эффективно могло бы быть использовано при измерении интегральных интенсивностей линий. Действительно, можно легко показать, что отношение интегральных интенсивностей спектральных линий не зависит от параметров спектральной установки. Использование интегральных интенсивностей могло бы, следовательно, значительно упростить задачу достижения воспроизводимости данных, получаемых в разных условиях опыта. [43]
 |
Обратная полюсная фигура для области сварного шва алюминиевого сплава ( сварка магнито-импульсным методом при давлении 9 ГПа.| Схема движения образца при дифракто-метрическом анализе текстуры. [44] |
Для определения текстуры прокатки по ППФ ее поочередно накладывают на разные стандартные проекции монокристалла до совмещения областей сгущения нормалей с выходами анализируемых нормалей на стандартной проекции. Обратную полюсную фигуру ( ОПФ) строят на основании измерений интегральной интенсивности отражений для разных плоскостей. С помощью дифрактометра в условиях фокусировки по Брэггу-Брентано полюсные плотности для разных плоскостей ( Phki), рассчитанные из соотношения отражений интенсивностей ( HKL) образца и эталона, наносят около соответствующего полюса ( hkl в стандартном треугольнике. Точки с одинаковым значением Рны соединяют уровнями Индексы полюсов ОПФ, около которых Рь. [45]
Страницы: 1 2 3 4