Cтраница 1
Измерения неровностей высотой 1 - 10 мкм с помощью реплики начинают с ее изготовления. Испытуемую поверхность детали промывают чистым бензином или смесью бензина со спиртом, смачивают ацетоном и тотчас накрывают предварительно отрезанным куском 20X20 мм прозрачной пленки из ацетилацетата ( кинопленка), прижимая этот кусок к испытуемой поверхности через папиросную бумагу. Показатель преломления пленки должен быть известен. Через 20 - 30 мин, пленка отскакивает от поверхности или ее снимают. Получают зеркальный отпечаток поверхности - реплику, которую обрезают по углам в виде восьмигранника или круга. На зеркало иммерсионной камеры наносят 2 - 3 капли иммерсионной жидкости, например масла, с известным показателем преломления и реплику отпечатком накладывают на зеркало; На зеркало с репликой накладывают верхнюю прозрачную плоскопараллельную пластину и завертывают по резьбе до упора. [1]
Для измерения неровностей на небольших участках дороги применяют трехметровую рейку, укладываемую в продольном направлении, и шаблон, укладываемый поперек дороги. При помощи промерника измеряют зазоры под рейкой или под шаблоном. Зазоры должны быть в пределах допустимых норм. [2]
![]() |
В. Схема рефлексометра. [3] |
Для измерения неровностей поверхности до 40 мкм разработан растровый-микроскоп ОРИМ-I. Принцип его действия заключается в образовании муаровых полос при взаимном смещении или развороте двух растров, например, в виде решеток. Оптическая схема прибора аналогична схеме двойного микроскопа. При этом вместо щели на поверхность изделия проектируется изображение растра, наблюдаемое с помощью второй ветви оптической системы микроскопа. [4]
![]() |
Интерференционный микроскоп сравнения ( ИМС.| Схема теневого метода контроля сферической поверхности.| Схема контроля методом светового сечения. [5] |
Для измерения неровностей поверхности до 40 мкм разработан растровый микроскоп. Принцип его действия заключается в образовании муаровых полос при взаимном смещении или развороте двух растров, например, в виде решеток. Оптическая схема прибора аналогична схеме двойного микроскопа. При этом вместо щели на поверхность изделия проектируется изображение растра, наблюдаемое с помощью второй ветви оптической системы микроскопа. [6]
Для измерения неровностей поверхности применяются ( см. разд. [7]
При измерении неровностей поверхности, как и при измерении линейных размеров, эти вопросы следует решать, исходя из обеспечения достаточной точности и достоверности результатов измерений. [8]
Однако при измерении неровностей поверхности одна из линий перекрестия располагается вдоль общего направления неровностей, а другая перпендикулярно ей ( см. рис. 29, д), и, следовательно, направление перемещения перекрестия составляет угол 45 с направлением измеряемой высоты неровностей для окулярных микрометров с косым крестом. [9]
Использование микроинтерферометра для измерения неровностей поверхности основано на явлении интерференции света, которое можно наблюдать с помощью специального оптического устройства. Микроинтерферометры применяют в лабораторных условиях для оценки наиболее чистых поверхностей с неровностями высотой в пределах 0 02 - 2 мк. [10]
Особенности выбора средств измерений неровностей поверхности состоят в следующем. Эти средства обычно используют в измерительных лабораториях в основном для аттестации образцовых деталей и поверок образцов, а также реже для выборочного, главным образом, арбитражного контроля наиболее важных деталей. Для них, как уже упоминалось в начале этой главы, нормативные предельные погрешности не определены. На рабочих местах, как правило, ограничиваются визуальным контролем шероховатости поверхности деталей путем сравнения с образцовыми деталями и реже с образцами шероховатости поверхности. При определенном навыке довольно уверенно визуально различают поверхности, примерно вдвое отличающиеся друг от друга по высотам неровностей. [11]
Численный результат получают путем измерения неровностей с помощью линейки и концевых мер или измерительного прибора ( фиг. Линейка укладывается на блоки из концевых мер равной величины, расположенные на расстоянии 2 / э от ее концов ( см. разд. Погрешность способа зависит от неточности и прогиба применяемой линейки и неточности концевых мер. [12]
Тележка системы Шестопалова для измерения волнообразных неровностей на поверхности катания рельсов состоит из следующих основных элементов: рамы, опирающейся на четыре ходовых ролика; двух измерительных реек, каждая из которых расположена между роликами и при работе скользит по поверхности катания рельсов; двух ползунов, расположенных посредине каждой рейки, и механизма записи на бумажной ленте измеренных неровностей на рельсах с приводом от ходового ролика. [13]
Он может быть распространен на измерения единичных неровностей поверхности и также с известным приближением на измерения различных параметров неровностей, Точность и степень достоверности измерения единичных неровностей поверхности. [14]
На рис. 29 пояснен принцип измерения неровностей методом светового сечения. [15]