Измерение - параметр - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Закон Вейлера: Для человека нет ничего невозможного, если ему не надо делать это самому. Законы Мерфи (еще...)

Измерение - параметр

Cтраница 1


Измерение параметров и другие проверки изделий проводят, как правило, в конце испытания ( при циклическом режиме - в последнем цикле, в конце последнего часа выдержки при верхнем значении температуры) без извлечения изделий из камеры влажности.  [1]

Измерение параметров этим методом практически сводится к определению величины отношения двух напряжений, одно из которых является приращением напряжения либо в цепи управляющей сетки, либо в цепи анода ( в зависимости от измеряемого параметра), а другое напряжение определяется эффектом, создаваемым первым напряжением в анодной цепи лампы. При этом повышенная точность измер-ений достигается применением нуль-индикаторов в мостовой схеме. Измерения параметров производятся при очень малых значениях приращений токов и напряжений, что достигается использованием специальных устройств - аттенюаторов, позволяющих с большой точностью получать любые малые значения переменных напряжений.  [2]

Измерения параметров делаются до начала и после испытаний, а также через оптимальные промежутки времени в процессе испытаний.  [3]

Измерение параметра вызывает вращение оси и одновременно перемещение каретки вдоль шкалы.  [4]

Измерение параметров проще всего производится при использовании системы Л - параметров, так как при этом приходится осуществлять режим холостого хода на входе при сравнительно низко-омном входе и режим короткого замыкания на выходе при высоко-омном выходе. Поэтому Л - параметры чаще всего и приводятся в справочной литературе.  [5]

Измерение параметров антифрикционное направляющих.  [6]

Измерение параметров производится при внешнем резисторе сопротивлением 1 МОм между выводами 10 и И.  [7]

Измерение параметров в цифровой форме производится с помощью цифрового показывающего прибора. Оператор посредством блока вызова Бв может вызвать любой параметр на этот прибор. При этом из АЦП поступает сигнал на цифровой показывающий прибор Пу, измеряемая величина представляется на нем в цифровой форме.  [8]

Измерения параметров отдельных участков тракта с обходом производят также при определении причин повышенного затухания тракта, не связанного с указанным влиянием.  [9]

Измерения параметров, характеризующих ВЧ тракты при тех или иных схемах подключения к линии, производят, как правило, при проверке каких-либо новых схем присоединения к линейным проводам или грозозащитным тросам, а также при определении влияния на параметры ВЧ тракта таких неоднородностей, как ответвление, кабельная вставка, транспозиция линейных проводов и тросов. Результаты этих измерений могут быть использованы также для косвенного определения коэффициентов фазы волновых каналов.  [10]

Измерение параметров, связанных с затуханием, позволяет обнаруживать изменение состава или структуры материала контролируемого изделия или исходного продукта ( в целом), обнаруживать инородные включения в диэлектрических изделиях. Как правило, в этом случае используются резонаторные датчики. Измерения производятся путем снятия резонансной кривой или определения спектральной характеристики резонатора с помощью генераторов качающейся частоты ( свип-генераторов) или спектроанализаторов.  [11]

Измерения параметра Кш производятся обычно при некоторой стандартной величине RI. Коэффициент шума увеличивается с ростом температуры.  [12]

Измерение параметров и характеристик каждого канала производится так же, как ыяо рассмотрено. Для приведенного усилителя рассогласование частотных характеристик обоих каналов не должно превышать 2 - 3 дБ при различных положениях регуляторов усиления и тембра.  [13]

Измерения параметров более чем ста транзисторов типа П13 - П15 показывают, что при токе коллектора / к1 ма и температуре 20 С значения входной проводимости g у 75 % транзисторов находятся в пределах 0 7ч - 1 6 моим. Значения g меньше 0 3 моим и больше 2 5 мсим не встречались.  [14]

Измерение параметра должно производиться за достаточно короткий период времени, чтобы не сказывалось охлаждение транзистора. Для этого время измерения / должно удовлетворять условию tw g тпк.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5