Cтраница 4
С увеличением толщины изделия ( особенно начиная с 3 - 4 мм) величина удельной выдержки уменьшается. Это объясняется тем, что реакция отверждения в толстых слоях прессовочного материала идет со значительным выделением тепла, которое способствует быстрейшему прохождению процесса. Так, если удельная выдержка для изделия толщиной 1 мм равна 20 сек / мм, то при толщине 6 мм она может составлять только 10 сек / мм. [46]
При увеличении толщины изделия резонанс с п 1 перемещается в более низкочастотную область. При / min он уходит за линию развертки. [47]
При контроле толщины электропроводящих изделий большое влияние на погрешность измерений оказывают изменения удельной электрической проводимости и магнитных свойств, вызванные изменением структуры материала, а также изменение расстояния между ВТП и поверхностью контролируемого объекта. При контроле гальванических покрытий к этим факторам добавляют отклонения толщины, электрической проводимости и магнитной проницаемости самого основания, на которое нанесено покрытие. [48]
С ростом толщины наматываемого изделия давление на оправку растет нелинейно, асимптотически приближаясь к некоторому предельному значению. [50]
В зависимости от толщины изделий изменяются и их механические характеристики. [51]
В зависимости от толщины изделия обычно применяются шарики различных, диаметров. [52]
В зависимости от толщины изделия и содержания смолы в пропитанных матах выбирается режим прессования ( давление - - 1 75 кг / см -, выдержка при 165 для изделия толщиной 3 мм - 30 мин. [53]
В зависимости от толщины изделия и содержания смолы в пропитанных матах выбирается режим прессования ( давление - - 1 75 кг / см -; выдержка при 165 для изделия толщиной 3 мм - 30 мин. [54]
В зависимости от толщины изделия различают: пленки - до 0 5 мм, лист - 0 5 - 2 мм, пластина - 2 - 8 мм, плита - выше 8 мм. [55]
![]() |
Мостовая измерительная цепь с дифференциальным емкостным преобразователем.| Измеритель толщины гальвани-ческого покрытия ферромагнитных изделий. [56] |
Бесконтактные методы измерения толщины изделий чаще всего основаны на использовании ионизационного излучения. Устройство для измерений толщины изделий с использованием ионизационного излучения содержит источник излучения известной интенсивности / о и приемник излучения, измеряющий интенсивность 1Х ослабленного в результате прохождения через исследуемую деталь излучения. [57]