Торец - слиток
Cтраница 2
Перед ориентацией следует сначала отшлифовать, а затем отполировать механическим или химическим методом один из торцов слитка до зеркальной поверхности. Это необходимо для отражения луча света от поверхности торца во время ориентации слитка. [16]
По отклонению светового пятна от нулевого деления экрана определяют угол отклонения кристаллографической плоскости от плоскости торца слитка. [17]
В числителе приведены предельные отклонения удельного электрического сопро ленця от Р юМ в знаменателе - по торцу слитка. [18]
В числителе приведены предельные отклонения удельного электрического сопро ленця от Р юм, в знамепатале - по торцу слитка. [19]
Принцип определения отклонения положения кристаллографической плоскости ( 111) от торца слитка на рентгеновской установке состоит в нахождении угла положения торца слитка по отношению к исходному, при котором фиксируется максимальная интенсивность рентгеновских лучей, отраженных от торца слитка ( пластины) и воздействующих на счетчик квантов. [20]
 |
Станок для шлифовки и полировки пластин кремния. [21] |
Слиток кремния с помощью держателя и механизма подачи подается вдоль плоскости диска на режущую иром-ку, и таким образом по торцу слитка срезается пластина толщиной около 0 3 мм. [22]
 |
Схема рентгеновского метода ориентации слитка. / рентгеновская трубка. 2 - слиток, 3 - приемник излучения. 4 - отраженный пучок. 5 - падающий пучок. [23] |
Существуют также методы ориентации, основанные на нахождении одного из поправочных углов и следа от пересечения искомой кристаллографической плоскости с плоскостью торца слитка. [24]
Принцип определения отклонения положения кристаллографической плоскости ( 111) от торца слитка на рентгеновской установке состоит в нахождении угла положения торца слитка по отношению к исходному, при котором фиксируется максимальная интенсивность рентгеновских лучей, отраженных от торца слитка ( пластины) и воздействующих на счетчик квантов. [25]
 |
Схема ориентации слитков оптическим способом. [26] |
Слиток монокристаллического стержня торцом помещают на предметный столик и прижимают вверху винтом. Световая картинка, отраженная от торца слитка, попадает на матовый экран 9, занимая на нем произвольное положение. После этого световую фигуру выводят на вертикальную ось и совмещают с горизонтальной осью. По отклонению светового пятна от нулевого деления определяют угол отклонения кристаллографической плоскости от плоскости торца слитка. [27]
Известен способ передачи колебаний через кристаллизующийся слиток, который в этом случае представляет собой часть волноводно-излучающей системы. При таком способе введения ультразвука через торец очищаемого слитка значительно облегчаются требования, предъявляемые к выбору материала излучателя, так как в этом случае отсутствует непосредственный контакт излучателя с расплавом, что исключает загрязнение расплава дополнительными примесями. [28]
Четырехзондовый метод применяется как для измерений на пластинках, так и на целых слитках. В последнем случае измерения проводят по торцу слитка и по образующей. [29]
Пучок света от осветителя через отверстие диафрагмы попадает на линзу и фокусируется ею на торце слитка, проходя через отверстие в центре экрана. Световой луч, попав на зеркальную поверхность торца слитка, отражается от нее на непрозрачный экран. [30]
Страницы: 1 2 3 4