Точность - измерение - размер
Cтраница 1
Точность измерения размеров на проекторе по чертежам-шаблонам во многом зависит от качества самих шаблонов. Этим требованиям не отвечают шаблоны, изготовляемые из плотной чертежной бумаги или на витринном стекле. Бумажный шаблон после использования его в течение 4 - 6 месяцев деформируется и теряет требуемую точность. Восстановление линий и размеров такого шаблона повторным вычерчиванием ведет к безусловному ухудшению его качества, так как нанесение линий на бывшей в употреблении бумаге повторно не дает четкости и точности линии, а нередко порождает и большие ошибки. Шаблоны, изготовляемые на витринном стекле толщиною 8 - f - 10 мм, хотя и обладают высокими качествами - не подвержены влиянию атмосферы, не деформируются и сохраняют точные размеры, но дороги и часто бьются при неосторожном обращении или хранении. Поэтому один из оптико-механических заводов в настоящее время изготовляет чертежи-шаблоны для измерения ( контроля) на теневом проекторе из дуралюмина толщиной 3 - 4 мм или фанеры толщиной 8 - 10 мм. [1]
 |
Правильные и неправильные приемы измерения микрометром. [2] |
Для повышения точности измерений размеров от 1000 мм и выше предусмотрена рычажная система. Такие рычажные микрометры с интервалами через 200 мм предназначены для замены обычных жестких микрометров, так как они обеспечивают более точные измерения. [3]
 |
Схема высокотемпературной камеры высокого давления для измерения электросопротивления. [4] |
Наконец, повышается точность измерения размеров образца. [5]
Данные по чувствительности и точности измерения размеров дефектов установкой АВГУР 4.2 также приведены в табл. 5.11. За счет корреляционной обработки эхосигналов чувствительность при проведении контроля можно поднять более чем в 10 раз, причем значительно улучшается отстройка от структурных помех. Аппаратура позволяет выполнять обзорный контроль на повышенной чувствительности, а отмеченные дефектные участки подвергать экспертному контролю с получением изображений дефектов голографическим методом. [6]
Весьма влияет температура воздуха на точность измерения размеров изделий. [7]
Указанные недостатки оптической системы значительно снижают точность измерения размеров с помощью фотоэлектрических систем. [8]
Обмер образца производится штангенциркулем с нониусом или микрометром с трещоткой, точность измерения размеров 0 05 мм. [9]
Желательно, чтобы измерительная база совпадала с технологической базой, так как в этом случае точность измерения размеров при проверке детали будет такая же, как и при выполнении технологических операций. [10]
Развитие техники вызывает необходимость повышения требований к точности изготовления деталей и узлов машин, а следовательно, и повышения точности измерений размеров. [11]
 |
Захват детали многопальцевым ЗУ. [12] |
Общим недостатком универсальных ЗУ как датчиков тактильной информации является их низкая разрешающая способность. Точность измерения размеров детали в направлении продольной оси ЗУ может быть высокой благодаря применению совершенных датчиков перемещений пальцев. Например, ЗУ, разработанное в Японии, в качестве датчика перемещения имеет оптоэлектрон-ную пару светодиод - фототранзистор. Перемещение измеряется по изменению интенсивности светового потока; при этом люкс-амперная характеристика фототранзистора интерполируется полиномом пятого порядка. Возможны и другие варианты технических решений - например, использование потенциомет-рических датчиков перемещения. [13]
В своей обстоятельной работе, посвященной определению размеров частиц при помощи электронного микроскопа, Уотсрн [101] указывает, что для такого случая лучше ограничиться указанием среднего размера частиц. Затруднения в определении точности измерений размеров частиц связаны, кроме того, с рядом других причин: разрешение зависит от контрастности изображения и, следовательно, может изменяться от объекта к объекту и даже от фотографии к фотографии из-за недофокусировки ( при работе с малоконтрастными объектами фокусировать удобно по частицам специально добавляемого золя золота [102]); ошибка в определении увеличения электронного микроскопа может достигать 10 %; в процессе наблюдения частицы покрываются загрязняющим слоем и размеры их увеличиваются. [14]
Имеется хорошее соответствие между толщиной пленки, измеренной по фигурам роста, и методом косого шлифа. Это соответствие ограничено точностью измерения размера фигур и ширин. При измерении по методу Дэша необходимо учитывать только самые большие фигуры роста, так как дефекты, соответствующие меньшим фигурам, могут зарождаться иногда уже после начала роста пленки. [15]
Страницы: 1 2