Точность - метод
Cтраница 2
Точность метода зависит от числа и подбора индикаторов. [16]
Точность метода в значительной степени зависит от параллельности характеристических кривых. Если они непараллельны по всей своей длине, то невозможно определить, каково относительное смещение. Отсутствие параллельности может быть обусловлено значительным неконтролируемым потоком электронов с посторонних поверхностей, несовпадением положений проводников А и В или эффектом пятнистости одной или обоих мишеней, причем пятна могут быть расположены по-разному. Первые два источника ошибок могут быть устранены улучшением техники эксперимента. Что же касается эффекта пятнистости, то метод, по-видимому, дает только среднее значение работы выхода [ см. формулу (2.8) ] поверхности, облучаемой пучком, а поскольку он применяется почти исключительно к напыленным в вакууме пленкам, разница в пятнистости отдельных пленок не может являться причиной отклонения от параллельности характеристических кривых. [17]
Точность метода при содержании серы в исходном газе от 0 1 до 1 % достигает 10 % ( относит. [18]
Точность метода невелика, количественные определения, связанные с измерением почернений спектральных линий на микрофотометре, затруднены из-за сильного фона. Обычно анализ проводился путем визуального сравнения почернений спектральных линий определяемого элемента в спектре образца с почернениями этих же линий в спектрах эталонных смесей. [19]
 |
Величина поправки холостого опыта. [20] |
Точность метода обычно ограничена постоянством величины этой поправки. [21]
Точность метода при малых и средних концентрациях водорода в металле определяется только разбросом поправки холостого опыта. При больших содержаниях влияние разброса поправки холостого опыта мало по сравнению с другими источниками ошибок, например неоднородностью образцов. [22]
 |
Схема прерывистого освещения с неподвижным диском. [23] |
Точность метода, основанного на законе Тальбота, зависит от точности выполнения вырезов в диске и от стабильности его угловой скорости. Такое светоослабляющее устройство не изменяет спектрального состава излучения. Этот метод не применим, если приемником излучения является вакуумный фотоэлемент с внешним фотоэффектом. Объясняется это тем, что эти фотоэлементы практически безынерционны, и фототок точно изменяется вслед за изменением освещенности. [24]
Точность метода проверена на пробах промытой окиси железа методом добавок. [25]
Точность метода неограниченно высокая, так как величина интервала AFo может быть выбрана сколь угодно малой. [26]
Точность метода может быть существенно повышена, если вместо детерминированной рассматривать стохастическую сетевую модель с реализацией ее на ЭВМ. В этом случае для каждой цепочки параллельно выполняемых работ ЭВМ вычисляет ( в соответствии с заданными законами распределения) значения времени выполнения каждой из таких работ и в качестве элементов критического пути берет наибольшее из полученных значений. Следовательно, критический путь может меняться в каждой реализации модели. Это еще более полно отражает особенности деятельности человека: при каждом решении задачи могут возникать свои трудности, свои критические участки, которые определяют общее время выполнения работы. [27]
Точность метода является мерой различия между истинной и экспериментально найденной величинами. Для того чтобы определить точность, необходимо знать истинную величину, например, на основании весового определения стандартных веществ. Разность этой и измеренной величин составляет ошибку измерения. [28]
Точность метода на частоте до 50 МГц невелика. На СВЧ частотах ( до 30 ГГц) при тщательном изготовлении прибора погрешность может быть снижена примерно до 1 % относительной влажности при 20 С. [29]
Точность метода во многом зависит от чистоты исходных веществ для установки титров и приготовления стандартных растворов. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5