Предварительные требования

Cтраница 2

Расчет структуры МПП сводится к определению числа структурных звеньев, вида используемых сигнально-потенциальных звеньев, расстояний между слоями в сигнально-потенциальных звеньях. Кроме того, в процессе расчета уточняют геометрические размеры проводников на сигнальных и потенциальных слоях. В качестве исходных данных используют предварительные требования к электрическим параметрам сигнальных проводников, условия металлизации отверстий, предварительные данные о геометрических параметрах элементов печатного монтажа и ориентировочное число сигнальных слоев при заданных параметрах элементов печатного монтажа и условиях трассировки. [16]

Университете Брауна, а другой () слушал их в качестве студента. Затем лекционные заметки были расширены в рассчитанный на один семестр курс физики полупроводников на отделении физики Университета Калифорнии в Беркли. Поскольку в подготовке студентов были большие различия, необходимые предварительные требования для посещения этого аспирантского курса были сведены к минимуму, а именно, предполагалось знакомство с курсами квантовой механики для студентов, электричества и магнетизма и физики твердого тела. В отделении физики уже есть рассчитанный на два семестра курс физики конденсированного состояния для аспирантов. Поэтому было решено уменьшить внимание к теоретическим методам в пользу феноменологии. Поскольку многие студенты занимались выращиванием кристаллов полупроводников или их использованием при изучении полупроводниковых приборов, особый упор был сделан на связи между физическими принципами и их применениями в приборах. Однако, чтобы избежать перекрытия с различными существующими курсами по твердотельной электронике, обсуждение устройства и работы приборов были сведены к минимуму. Подобный курс оказался весьма удачным, о чем свидетельствует тот факт, что он довольно регулярно повторялся ( примерно каждые два года) по просьбе студентов. [17]

Схематическое изображение прибора для получения многолучевых полос Физо ( метод Толанского. [18]

Эти регулировки очень утомительны. Исключительно удобную регулировку имеет ступенчатый интерферометр, описанный Клюте и Фаярдо U5J - Точное измерение толщины требует тщательной оценки долей полос. Эти доли могут быть измерены в микроскопе с помощью градуирован, кого объектива или, более точно и просто, на микрофотограмме системы полос. В любом случае, оценка требует проведения линейных измерений, точность которых зависит от четкости и резкости полос. Как указывалось ранее, для этого необходимо, чтобы оптические пластины ( пластины Физо) имели большой коэффициент отражения и малый коэффициент поглощения. Для высокой точности измерения толщины необходимыми условиями являются два других предварительных требования: 1) исключительная гладкость и ровность поверхности пленки и 2) очень хорошо коллимиро-ванный и монохроматизированный свет. Измерение толщины от 30 до 20000 А может быть практически осуществлено с точностью до 30 А. [19]

Страницы: 1 2