Изображение - решетка
Cтраница 1
Изображение решетки P Q в плоскости увеличенного изображения ( по Аббе - вторичное изображение) возникает в результате интерференции пучков света, исходящих из дифракц. Получаемое изображение тем ближе к оригиналу, чем больше максимумов участвует в формирования изображения. [2]
Ат, то изображение решетки в плоскости Р Р ухудшается, так как оно соответствует решетке, у которой при дифракции эти - максимумы не возникают. Когда диафрагма Пропускает только один пучок АО, достигающий плоскости Р Р свет будет состоять только из одной волны, как было бы при замене решетки РР прозрачной плоскопараллельной пластинкой. [3]
 |
Изображение решетки, называемой кубическое деление пространства. [4] |
Сама дифракционная картина также представляет собой изображение решетки, в которой расстояния между узлами ( рефлексами) не являются случайными. Они связаны с расстояниями между узлами о истинной кристаллической решетке. Интенсивности рефлексов описываются сложными математическими уравнениями для рассеяния на регулярно расположенных атомах. Имеется общий математический принцип, гласящий, что для представления периодической функции могут применяться ряды Фурье. Ряд Фурье такой функции определяется 1) частотой синусоидальных и косинусоидальных волн и 2) их амплитудой. [5]
Усилитель настраивают таким образом, чтобы изображения решеток конденсоров были смещены относительно решеток фотоэлементов. Фотоэлементы соединены по дифференциальной схеме. При повороте зеркала гальванометра изображения решеток конденсоров смещаются относительно решеток фотоэлементов, причем на одном фотоэлементе перекрываются непрозрачные участки решеток, а на другом, наоборот, прозрачные участки. Следовательно, при повороте зеркала гальванометра световой поток, падающий на один из фотоэлементов, увеличивается, а поток, падающий на другой, - уменьшается. При этом в цепи фотоэлементов появляется ток, который поступает на гальванометр второго каскада усилителя. [6]
На зеркальную мембрану для повышения чувствительности направляется изображение решетки, которое, отражаясь, фокусируется на такую же решетку перед фотоэлементом. [7]
В плоскости изображений из этой дифракционной картины образуется изображение решетки. [8]
При подаче сигнала на GI зеркальце его поворачивается, изображения решеток конденсоров смещаются. [9]
Указанное несоответствие можно устранить, если на слой проектировать изображение решетки малого контраста с тем, чтобы размеры разрешаемых деталей были сравнимы с встречающимися на практике. В некоторых случаях используют два значения разрешающей способности. Одно для контраста 1: 1000 и второе для 1: 1 6 или 1: 1 25, что лучше соответствует действительности. [10]
Освещая такую голограмму диффузно рассеянным белым светом, получим изображения решетки, локализованные на самой голограмме. Эти изображения монотонны и контрастны по всему полю и наблюдаются как в отраженном, так и в проходящем свете. [11]
 |
Расчетные и экспериментальные значения дифракционной эффективности т ] для ориентации кристалла ( 111 в зависимости от направления волнового. [12] |
В работе [8.40] при измерении зависимости ц ( у) на модулятор с фотопластинки проектировалось изображение решетки с v 5 лин / мм. Имелась возможность вращать фотопластинку вокруг оптической оси проектирующей системы и тем самым изменять ориентацию решетки относительно осей кристалла. Результаты измерения, получаемые для модулятора, у которого кристаллическая пластина имела срез ( 111) и толщину 700 мкм, показаны на рис. 8.10. Результаты получены при считывании циркулярно и линейно поляризованным вдоль оси кристалла [ Ш ] светом. При изменении направления поляризации линейно поляризованного света вид зависимости т) ( у) сохраняется, но в соответствии с (8.2) кривая смещается вращением вокруг начала координат на угол, который в два раза больше, чем угол поворота плоскости поляризации считывающего света. Хорошее согласие экспериментальных данных с расчетными наблюдается лишь тогда, когда при записи решетки отрицательный потенциал подается на передний по отношению к считывающему свету электрод. Как указывалось выше, неоднородное электрическое поле, вызывающее модуляцию считывающего света, формируется вблизи отрицательного электрода. [13]
В плоскости А В лучи различных спектров интерферируют между собой, вследствие чего и образуется изображение решетки. Это изображение тем более подобно объекту в мелких деталях, чем большее число диффракционных спектров пройдет сквозь апертурную диафрагму ( выходной зрачок) аа объектива. Принципиально для образования изображения решетки необходимо не менее двух спектров. [14]
Если часть максимумов задержать -, то изображение ухудшится, пропадут некоторые детали или даже полностью исказится изображение решетки. [15]
Страницы: 1 2 3 4