Изображение - решетка
Cтраница 3
Смещение мембраны 5 обнаруживают с помощью оптической системы Теплера. Для этого изображение решетки с ячейками, равными перемычкам, проектируется после отражения от мембраны 5 на другую такую же решетку так, чтобы при покоящейся мембране 5 изображения перемычек точно перекрывали отверстия второй решетки. При этих условиях сквозь вторую решетку свет не проходит. Однако незначительные смещения мембраны 5 или даже ее искажения приводят к увеличению количества света, проходящего через вторую решетку. Световой поток после второй решетки воспринимается фотоэлементом, фото-ток которого регистрируется обычными способами. Таким приемом удается обнаруживать смещения мембраны 5, значительно меньшие 0 1 и. Приемник Голея, как и другие тепловые приемники, наиболее пригоден для работы в инфракрасной области спектра. [31]
Выражение (21.48) не учитывает влияния аберраций объективной линзы, которые должны изменять фазовые отношения между лучами, проходящими через разные области объектива. Практически для получения изображения решетки кристаллов микроскоп используется на пределе своей разрешающей способности, и учет аберраций необходим. [32]
Если непрозрачной пластиной с щелью закрыть в - фокальной плоскости все максимумы интенсивности, за исключением центрального и находящихся с ним на одной линии, параллельной одной из систем штрихов решетки ( рис. 195), то в изображении сохраняется лишь перпендикулярная система штрихов решетки. Если закрыть центральный максимум, то получается изображение решетки с обращенным контрастом - на месте светлых линий возникают темные, и наоборот. [33]
 |
Распределение осиещсшюсти в ипоОражсшш диух близких точек и продельном случае их виау-ального разрешения.| Схема образования изображения несамосветящегоск объекта по Аббе. [34] |
Abbe), дает следующее представление об образовании изображения. В плоскости P Q лучи различных спектров интерферируют между собой, образуя изображение решетки. Это изображение тем более подобно объекту, чем большее число дифракционных спектров пройдет сквозь апертуриую диафрагму ав объектива. Принципиально для образования изображения решетки необходимо не менее двух спектров. [35]
Вследствие этого при освещении такой голограммы белым светом на самой голограмме восстанавливается радужное изображение решетки. [36]
В присутствии поглощения и для других структур соотношение между периодами и фазами не такое точное. Это показано на примере вычислений, сделанных П. Л. Фейесом в связи с изучением повторения с толщиной изображений решетки, полученных, когда пучок параллелен оси Ь кристалла TiNb24Oe2 [132] ( гл. [37]
Известно, что любая ф-ция, описывающая картину интенсивности [ действительная, положительно определенная ф-ция 1 ( х, у) ], может быть представлена в виде амплитудных синусоидальных решеток-синусоидальных распределений интенсивности. Из ( 3) следует, что ОПФ определяет контраст, с к-рым оптич, система передает изображение синусоидальных решеток разл. [38]
Использование для модуляции считывающего света линейного электрооптического эффекта позволяет ослабить, в некоторых случаях значительно, шумы, связанные с такими дефектами, причем дефектами не только самого ПВМС, но и других элементов, расположенных в оптической системе до ПВМС. Для того чтобы пояснить это утверждение, рассмотрим отношение сигнал / шум для частотной плоскости когерентно-оптического процессора, предположив, что на ПВМС записано изображение синусоидальной решетки. Свет, рассеянный на дефектах оптики и ПВМС, создает в этой плоскости ореол вокруг нулевого порядка дифракции, уменьшающий отношение сигнал / шум. [39]
Следовательно, положения плоскостей саморепродукции решетки за голограммой зависят от относительного положения объекта и голограммы при ее записи, а также от направления дифрагированного луча, куда переносятся изображения решетки. [40]
В плоскости А В лучи различных спектров интерферируют между собой, вследствие чего и образуется изображение решетки. Это изображение тем более подобно объекту в мелких деталях, чем большее число диффракционных спектров пройдет сквозь апертурную диафрагму ( выходной зрачок) аа объектива. Принципиально для образования изображения решетки необходимо не менее двух спектров. [41]
Усилитель настраивают таким образом, чтобы изображения решеток конденсоров были смещены относительно решеток фотоэлементов. Фотоэлементы соединены по дифференциальной схеме. При повороте зеркала гальванометра изображения решеток конденсоров смещаются относительно решеток фотоэлементов, причем на одном фотоэлементе перекрываются непрозрачные участки решеток, а на другом, наоборот, прозрачные участки. Следовательно, при повороте зеркала гальванометра световой поток, падающий на один из фотоэлементов, увеличивается, а поток, падающий на другой, - уменьшается. При этом в цепи фотоэлементов появляется ток, который поступает на гальванометр второго каскада усилителя. [42]
Суито и Уеда [ И, 12 ] при помощи метода микродифракции показали, что кристаллы фталоцианина меди могут обладать двумя различными габитусами. В некоторых случаях были получены изображения решетки со смешанной структурой, что авторами было интерпретировано как двойниковая структура. Этот пример снова указывает на необходимость проведения комплексных исследований и соблюдение осторожности при расшифровке электронных микрофотографий. [43]
Много общего с этой имеет идея о замене одного из зеркал широкоапер-турного плоского резонатора на плоскую же двумерную решетку. Хотя в первых экспериментах [51] решетчатое зеркало рассматривалось просто как элемент, способный в необходимых случаях заменить полупрозрачное зеркало, вскоре авторы [1] высказали надежду на то, что с его помощью можно осуществить угловую селекцию. Для достижения этой цели они предложили подбирать параметры решетки и длину резонатора так, чтобы изображение решетки, формирующееся благодаря так называемому эффекту Тальбота, было совмещено с нею самой. [44]
При освещении дифракционной решетки R ( рис. 76) параллельным пучком в фокальной плоскости F объектива О формируется пространственный спектр решетки. Поместим в фокальной плоскости F экран с отверстием, через которое проходит только прямое изображение источника, находящееся в точке F. В этом случае плоскость R, оптически сопряженная с плоскостью решетки R, освещена равномерно и не будет видно никакого изображения решетки. Увеличим диаметр отверстия так, чтобы пропустить через него прямое изображение источника и два первых порядка спектра решетки, расположенные по разные стороны от него. [45]
Страницы: 1 2 3 4