Микроскопическое изображение

Cтраница 1

Микроскопическое изображение может занимать только часть поля зрения. В этом случае определяют хорды сечения исследуемого участка и хорды сечения самих анализируемых объектов, а если последних несколько типов, то хорды сечения измеряются для каждого типа. [1]

Количественный анализ микроскопических изображений становится необходимым методом объективизации исследований в морфологии. Можно уверенно сказать, что анализаторы изображения станут в ближайшем будущем обязательной технической принадлежностью морфологических лабораторий, как сегодня микроскопы. Успешность внедрения новых методов определяется как реальным доступом к техническим устройствам, так и человеческим фактором, иначе говоря, уровнем теоретической подготовки морфологов. В настоящее время второе условие значительно отстает от первого. Прогресс в техническом обеспечении анализа изображений значителен. В 1965 году было создано первое поколение анализаторов изображения - система КВАНТИМЕТ, прежде всего длж нужд минералогии и металлографии. [2]

Время экспонирования микроскопического изображения и картины микродифракции обычно составляет несколько секунд. [3]

За последние годы дифракционная теория микроскопического изображения получила новое, очень важное практическое применение: была решена задача различения прозрачных деталей, мало отличающихся по своему показателю преломления. К таким объектам относятся детали внутреннего строения микроорганизмов. Даже при достаточном размере, эти детали остаются невидимыми из-за отсутствия контраста. Оказалось, что, изменяя условия вторичной интерференции дифракционных спектров, можно сделать такие детали видимыми. Для этого в главной фокальной плоскости объектива помещают тонкую, прозрачную пластинку, создающую сдвиг фазы спектра нулевого порядка на четверть длины волны по отношению к спектрам других порядков. Этот метод имеет огромное значение для исследований самых различных объектов и получил название метода фазового контраста. [4]

Угол поворота между кристаллографическими направлениями в микроскопическом изображении кристалла и соответствующими направлениями в дифракционной картине можно определить с помощью любого кристаллического объекта, имеющего известную кристаллографическую огранку ( габитус) или кристаллографически определенные детали видимой микроструктуры. Объекты первого типа - кристаллы МоО3 псевдоорторомбической структуры в виде плоских игл с длинным ребром вдоль [100] растут на крышке тигля при сгорании молибдена. При совмещении микрофотографии и электро-нограммы одного и того же кристалла ( совмещаются на негатоскопе3 негативы или их копии на кальке) измеряют угол между направлением ребра кристалла и соответствующим рядом рефлексов [100] на дифракционной картине. [5]

При таком положении образца оказывается наилучшим контраст микроскопического изображения определенных деталей его структуры. [6]

С применением промежуточной линзы связана возможность легкого перехода от наблюдения микроскопического изображения кристаллических объектов к наблюдению картины электронной дифракции. Согласно дифракционной теории, изображение, которое дает объектив микроскопа, является результатом интерференции лучей, испытавших дифракцию на объекте. [7]

Химический состав монолитного блока по данным XRF. [8]

Более детально расположение подслоя и активного компонента показано на вставках рис. 12, которые представляют собой микроскопические изображения, сделанные с разной кратностью увеличения. В наши задачи входило исследование свежего и состаренного катализаторов такого типа с тем, чтобы понять, что представляет собой каждый из компонентов данного катализатора ( монолит, подслой и активный компонент) и что с ними происходит в процессе эксплуатации. [9]

Можно сказать, что дифракционная картина представляет собой такую же карту обратной решетки кристалла, как и микроскопическое изображение, - карту реальной структуры кристалла. При повороте кристалла поворачивается и кристаллическая ( прямая) решетка, и обратная. [10]

Схема образования контраста изображения поликристаллического объекта, состоящего из субзерен разной ориентировки. [11]

Однако такой способ получения темнопольного изображения не является лучшим, так как при этом электроны, формирующие микроскопическое изображение, проходят через периферийные области объективной линзы, где особенно сильно проявляются аберрации. [12]

Поэтому, хотя схема, приведенная на рис. 146, имеет общее значение, дифракция на кристаллической решетке непосредственно определяет микроскопическое изображение только для объектов с достаточно большими межплокостными расстояниями, но косвенно влияет на контрасты изображения любых кристаллических объектов. [13]

Чтобы подчеркнуть, что проводимость заключается обычно в малом систематическом дрейфе, наложенном на хаотическое движение носителей заряда, рассмотрим рис. 4.5, представляющий собой подобие Микроскопического изображения небольшой части системы, о которой шла речь. Положительные ионы изображены черными кружками, отрицательные - светлыми. Мы предполагаем, что последние являются электронами, подвижность которых настолько больше подвижности положительных ионов, что движением положительных ионов вообще можно пренебречь. Из рис. 4.5, а видно, что сами частицы и скорости электронов распределены совершенно хаотически. [14]

Реальные микроскопические изображения редко балуют нас такими п ростыми задачами. При необходимости одновременного анализа нескольких типов объектов измерять суммы хорд сечения нужно по каждому типу. На рис. 15, б представлены три типа объектов, требуется определить их удельную площадь. [15]

Страницы: 1 2