Микроскопическое изображение
Cтраница 2
На рис. 2 показана микрофотография фракции длиннопламенного угля, выделенного бензолом из растворимой его части в ретене. Электронно микроскопическое изображение позволило впервые рассмотреть мельчайшие структурные элементы почти правильной сферической формы с гладкими краями, составляющие вещество угля ранней стадии метаморфизма. [16]
При наличии гониометрического столика объекта ( а при его отсутствии с помощью стереомеханизма) можно в довольно широких пределах изменить ориентацию образца относительно освещающего пучка и изменять действующие отражения. Формирование микроскопического изображения связано с действием большого числа отражений, поэтому дифракционный контраст оказывается низким. Точное вульф-брэгговское ( В - Б) положение для какого-либо отражения можно легко установить, если кристалл достаточно толст и совершенен. В этих случаях наблюдаются так называемые линии Кикучи. [17]
С увеличением п площадь, вычисляемая по формуле ( 27), приближается к абсолютной поверхности, если только одни и те же частицы не учитываются повторно и можно пренебречь субмикроскопической шероховатостью частиц. В обычном методе проекций для измерения поверхности частиц требуются либо микрофотографии, либо контурные рисунки полей микроскопических изображений. [18]
Применение столь малой апертуры при микроскопической работе необходимо из-за сильного влияния аберрации линз для получения максимальной разрешающей способности. Поэтому, хотя схема, приведенная на рис. 20.1, а имеет общее значение, дифракция на кристаллической решетке непосредственно определяет микроскопическое изображение только в микроскопах высокого разрешения или для объектов с достаточно большими межплоскостными расстояниями, но косвенно влияет на контрасты изображения любых кристаллических объектов. [19]
После нескольких лет упорного труда ученого были впервые выпущены объективы оптических инструментов, изготовленные и рассчитанные исключительно на основании теоретических соображений и инженерных расчетов. Этот оптический инструмент предстал в совершенно новом свете: впервые были выяснены функции объектива и окуляра, проведена классификация различных аберраций, разработана теория микроскопического изображения и, наконец, были установлены пределы разрешающей способности оптических инструментов. [20]
 |
Расположение плоского элемента структуры ( когерентной границы двойника, дефекта упаковки в фольге. [21] |
В тех случаях, когда искомая плоскость или направление наклонны к поверхности фольги ( рис. 20.35), для индицирования следует воспользоваться стереографическими или гномостереографическими проекциями. После определения ориентировки фольги и построения гномо-стереографических проекций отражающих плоскостей ( плоскость проекции перпендикулярна оси прибора) следует нанести на круг проекции искомое направление или нормаль к искомой плоскости в виде линии ОС ( рис. 20.35), совмещая данное направление на микрофотографии с центром круга проекции и учитывая угол поворота микроскопического изображения относительно электронограммы. Эта линия является ортогональной проекцией искомого направления, а на данной плоскости проекция представляет геометрическое место точек стереографических проекций направлений, проектирующихся на микрофотографии в виде одной и той же линии. Индексы анализируемого направления определяют из индексов точек, расположенных на линии ОС с помощью стандартной проекции, соответствующей оси зоны. [22]
В главной фокальной плоскости объектива Р0б на схеме ( рис. 20.1) изображена одна система из трех максимумов: А, В к С. Очевидно, что при различии кристаллической структуры или разных ориентировках частиц должны возникать различные системы дифракционных максимумов. Интерференция лучей А, В, С дает в плоскости селекторной диафрагмы 10 промежуточное микроскопическое изображение частиц объекта. [23]
Страницы: 1 2