Условие - фокусировка
Cтраница 3
Как мы отмечали выше, условия идеальной геометрии (10.15) одновременно являются условиями фокусировки пучков, излучаемых всеми точками линейного источника с шириной В, в плоскости, параллельной основанию прибора. [31]
Для повышения эффективности анализа и регистрации рентгеновских лучей с помощью кристалл-анализатора очень важно выполнение условий фокусировки: источник рентгеновских лучей ( испытуемый образец), кристалл-анализатор и детектор должны располагаться на одной окружности. Однако обычная работа РЭМ - движение луча по поверхности объекта не является оптимальной, так как в крайних положениях луча на поверхности объекта ( при малых увеличениях) условия фокусировки существенно нарушаются, вследствие чего интенсивность изучения уже не будет однозначно связана с количеством анализируемого элемента. Поэтому при анализе макрообъсктов оказывается целесообразным использование механического перемещения образца относительно неподвижного зонда. [32]
 |
Схема прибора. [33] |
Когда возникает переориентация магнитных моментов, распределение поля в магните В уже не соответствует условию фокусировки и интенсивность пучка, попадающего на детектор, уменьшается. При выполнении эксперимента медленно изменяется поле магнита С или частота генератора; резонанс наблюдается по спаданию и последующему восстановлению интенсивности пучка на детекторе. [34]
 |
График экспозиции для стали F 60.| График экспозиции для алюминия. F 50 Пленка чувствительностью 400 по XD. Без. [35] |
На практике режим просвечивания для изделия данного химического состава и толщины ориентировочно находят с помощью условий фокусировки, чувствительности графиков экспозиции, экспериментально по - пленки и наличия экранов. [36]
На рис. 9 - 11 приведены кривые экспозиции для стали, алюминия и меди с учетом условий фокусировки, чувствительности пленки и наличия экранов. Время экспозиции находится делением миллиамперсекунд на фактический ток трубки в миллиамперах. [38]
Такая рентгенооптическая схема позволяет вращать образец в собственной плоскости и дает возможность применять широко расходящийся пучок без нарушения условий фокусировки. [39]
В области дифрактометрии ( см. Рентгеновский дифрактометр) Р.г. обеспечивает перемещение образца и счетчика относительно первичного пучка так, чтобы выполнялось условие фокусировки ( рис. 4; см. также рис. 2 в ст. Рентгеновский дифрактометр) в методах исследования поликристаллов. [40]
Знание распределения интенсивности линий по диаметру и глубине полости имеют большое значение для аналитического использования полого катода, в частности при выборе условий фокусировки свечения из полого катода на щель спектрографа. [41]
На рис. 8 - 9 показаны контуры яркости вдоль одного края соответственного изображения поперечной полоски для сигнала с неограниченным спектром при двух условиях фокусировки камеры. Рисунок 8 - 9 а относится к случаю, когда развертывающее пятно камеры предполагается в виде математической точки. Поэтому сигнал содержит резкий скачок от уровня черного к уровню белого самой полоски. Край изображения полоски теперь расплывчат - скачок перешел в кривую, простирающуюся на конечное расстояние вдоль направления развертки. Пунктирными линиями на диаграмме обозначены границы переходного интервала. Сплошная линия указывает положение изображения геометрического края полоски. [43]
Из выражений ( 28) и ( 29) следует; что с помощью голографи-ческого процесса можно получить значительное увеличение, вплоть до предела, устанавливаемого условием фокусировки. [44]
Таким образом, задав Ь, из равенства (8.27) можно определить ц0, а из соотношений (8.23) или (8.26) 0оф, которые соответствуют b / sin Э0ф и удовлетворяют условиям фокусировки второго порядка. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5