Условие - фокусировка
Cтраница 5
Механизм разрушения феррита в общем хорошо описывается моделью, разработанной для металлов. Однако при обработке хрупких материалов, каким является феррит, необходимо учитывать возможность механического выбивания дна отверстия под действием импульса отдачи истекающих паров. Профиль отверстия определяется условиями фокусировки и близок к цилиндрическому при расположении фокального пятна на передней поверхности образца. [61]
Соотношения (6.15) и (6.18) оказались полезными для решения сложных задач о распространении света в оптически неоднородной среде. В более простых случаях обычно оказывается достаточным использование только законов отражения и преломления света. При этом для описания условий фокусировки световых пучков и построения изображений применяют некоторые приемы, которые упрощают решение типовых задач. [62]
 |
Ионный источник и коллектор масспектрометра. [63] |
Магнитное я электрическое поля меняют с помощью потенциометров. Если первое из них остается постоянным, то, изменяя электрическое поле ЕС, можно вводить пучки ионов разного сорта поочередно в коллектор. Ионы, не отвечающие условию фокусировки или рассеянные в результате столкновений с молекулами газа, попадают на стенки заземленной трубки и разряжаются. [64]
Магнитное и электрическое поля меняют при помощи потенциометров. Если одно из них, например магнитное, остается постоянным, то, изменяя электрическое поле ЕС, можно вводить пучки ионов разного сорта поочередно в коллектор. Ионы, не отвечающие условию фокусировки или рассеянные в результате столкновений с молекулами газа, попадают на стенки заземленной трубки и разряжаются. [65]
 |
Обратная полюсная фигура для области сварного шва алюминиевого сплава ( сварка магнито-импульсным методом при давлении 9 ГПа.| Схема движения образца при дифракто-метрическом анализе текстуры. [66] |
Для определения текстуры прокатки по ППФ ее поочередно накладывают на разные стандартные проекции монокристалла до совмещения областей сгущения нормалей с выходами анализируемых нормалей на стандартной проекции. Обратную полюсную фигуру ( ОПФ) строят на основании измерений интегральной интенсивности отражений для разных плоскостей. С помощью дифрактометра в условиях фокусировки по Брэггу-Брентано полюсные плотности для разных плоскостей ( Phki), рассчитанные из соотношения отражений интенсивностей ( HKL) образца и эталона, наносят около соответствующего полюса ( hkl в стандартном треугольнике. Точки с одинаковым значением Рны соединяют уровнями Индексы полюсов ОПФ, около которых Рь. [67]
Ионы других газов на коллектор не попадают. Поворот на 180 выбран из условий фокусировки пучка ионов с малой расходимостью. [68]
Страницы: 1 2 3 4 5