Cтраница 4
При этом один полюс испытательного устройства соединяется с выводом испытываемой обмотки, а другой - с заземленным корпусом испытываемого электрооборудования, с которым на все время испытаний данной обмотки электрически соединяются все другие обмотки. Обмотки, соединенные между собой наглухо и не имеющие вывода концов каждой фазы или ветви, должны испытываться относительно корпуса без разъединения. [46]
Все переключения в схеме испытательного устройства и в схеме проверки защиты должны выполняться ключами управления и режима, с минимальными переключениями в схеме проверяемой защиты. [47]
При этом один полюс испытательного устройства соединяется с выводом испытываемой обмотки, а другой - с заземленным корпусом испытываемого электрооборудования, с которым на все время испытаний данной обмотки электрически соединяются все другие обмотки. Обмотки, соединенные между собой наглухо и не имеющие вывода концов каждой фазы или ветви, должны испытываться относительно корпуса без разьединения. [48]
Образцы, закрепленные в испытательном устройстве, нагревают до требуемой температуры и выдерживают не менее 1 ч до приложения избыточного давления. [49]
Для комплексных натурных испытаний используют испытательные устройства, имитирующие климатические условия при эксплуатации. Объекты, как правило, испытывают в условиях более жестких, чем эксплуатационные. Во время испытаний создаются определенные температурно-временные воздействия на изделия. [50]
![]() |
Схема устройства для проверки изоляции цепей управления, защиты и измерения. [51] |
После подготовки испытуемой схемы подключают испытательное устройство, напряжение плавно поднимают до 500 в и, если не наблюдаются разряды, пробои или искры, напряжение повышают далее до 1000 в, держат 1 мин, а затем плавно снижают до нуля. Изоляция цепей вторичной коммутации считается выдержавшей испытание, если при испытании не было скользящих разрядов, пробоев, резких толчков тока, а также если при повторной проверке сопротивления изоляции мегомметром изоляция не ухудшилась. [52]
Уэллс, используя разработанное им специальное испытательное устройство ( рис. 20), изучал влияние искусственных дефектов в сварных швах и показал, что для данной стали существует верхний предел температур, при котором хрупкие трещины могли и не инициироваться, и нижний предел, при котором трещины были хрупкими, но либо внезапно останавливались, либо распространялись по всему образцу, в зависимости от напряжения и геометрии искусственных дефектов. Это было показано на диаграмме ( Уэллс, 1956 г.), которая являлась, вероятно, прототипом упомянутых ранее диаграмм Кихара и аналитической диаграммы разрушения Пеллини. [53]
![]() |
Измерение времени переключения контактов выключателя. [54] |
Далее, к испытываемой схеме подключается испытательное устройство, напряжение плавно поднимается до 500 в и держится на этом уровне. При этом просматриваются все вторичные цепи, находящиеся под испытательным напряжением. [55]
Образец помещается между двумя зажимными губками испытательного устройства, причем одна из губок может вращаться вокруг своей оси, а другая перемещаться вдоль этой оси. [56]
![]() |
Схема установки для испытания изоляции напряжением постоянного тока. [57] |
При измерении тока проводимости в состав испытательного устройства входит также соответствующее измерительное устройство. [58]
Как правило, временные провода от испытательного устройства должны присоединяться ко входным зажимам проверяемого устройства. [59]