Cтраница 1
![]() |
Зона рассеяния КС сопротивлений резисторов, гистограммы и кривые нормального распределения ( резисторы типа ВС сопротивлением несколько мегом, 1200 шт., температура t 40 С, номинальная нагрузка. [1] |
Уход параметров ФУ под воздействием влаги обусловлен в основном изменением от влажности сопротивлений напроволочных резисторов. Это изменение составляет 15 - 25 % от общей нестабильности параметров ФУ, так как 30 - 50 % радиоэлементов составляют непроволочные резисторы. [2]
Кривые ухода параметров для элементов, по которым определяется ресурс элементов в соответствии с заданными требованиями к параметрам. [3]
Испытания на уход параметров заключаются в периодических замерах определяющих параметров с целью контроля ста бильности или направления и скорости убывания параметров во времени. При замерах параметров строго учитывается, с каким образцом и моментом времени эти замеры связаны. [4]
Испытания на уход параметров заключаются в периодических замерах определяющих параметров с целью контроля стабильности или направления и скорости убывания параметров во времени. При замерах параметров строго учитывается, с каким образцом и моментом времени эти замеры связаны. [5]
Так как уходы параметров элементов АЦП, определяющих величину по грешности преобразования, происходят относительно медленно то период об новления кодов коррекции может быть выбран относительно большим ( например, 10 с. Поэтому в АЦП после первоначальной выработки всех кодов KOD рекции подряд без перехода в режим преобразования при последующей работе происходит чередование длительных циклов режима преобразования в кото рых производится много преобразований, и коротких циклов режима коспеГ ции, в которых производится выработка и запоминание одного кода корпекиии Для уменьшения непроизводительных потерь времени а коррекцию примерно до 1 % от всего времени работы АЦП совмещены во времени процесс работы АЦП в режиме преооразования и выработка прецизионным ЦАП эталонного напряжения для следующего цикла коррекции. [6]
Частичный отказ характеризуется уходом параметров электронного прибора за пределы норм. [7]
Недостаточная тренировка влияет на уход параметров и характеристик с течением времени. [8]
Если полученная при испытаниях кривая ухода параметра нелинейна, то отдельно анализируются два отрезка этой кривой. В качестве первого берется отрезок, соответствующий наработке за первые 200 час испытаний, а в качестве второго - отрезок, соответствующий наработке за другую половину или 2 / з времени испытаний. Предположим, что кривая износа имеет вид, как показано на фиг. Измерения произведены при t 0, 200, 300 и 1000 час. В этом случае приработочный уход параметра не должен учитываться. Если элементы прирабатываются в пределах 200 час, испытания на уход параметров следует начинать уже после 250 час работы под нагрузкой. [9]
Если полученная при испытаниях кривая ухода параметра нелинейна, то отдельно анализируются два отрезка этой кривой. В качестве первого берется отрезок, соответствующий наработке за первые 200 час испытаний, а в качестве второго - отрезок, соответствующий наработке за другую половину или 2 / 3 времени испытаний. Предположим, что кривая износа имеет вид, как показано на фиг. Измерения произведены при / 0, 200, 300 и 1000 час. В этом случае приработочный уход параметра не должен учитываться. Если элементы прирабатываются в пределах 200 час, испытания на уход параметров следует начинать уже после 250 час работы под нагрузкой. [10]
Процесс технологической приработки сопровождается часто уходом параметров аппаратуры за пределы ТУ; в этом случае необходимо провести подстройку аппаратуры. [11]
Кривые, полученные во время испытаний на уход параметров, чаще всего экстраполируются линейно вплоть до пересечения с одним из допустимых уровней. [12]
Следует также иметь в виду, что на уход параметров влияет то, что транзистор находится под электрической нагрузкой. [13]
Эта формула основана на предположении, что кривая ухода параметра, пересекающая нижний предел, вогнута, а кривая, пересекающая верхний предел, выпукла. Если на втором участке кривая линейна, то считается, что испытания на уход параметра проводились только на этом участке. [14]
Может оказаться, что отказ системы наступает вследствие значительных уходов параметра, по отношению к которому чувствительность выходных координат является минимальной. Поэтому более предпочтителен показатель, учитывающий как величину функции чувствительности, так и характеристики дрейфа параметра. [15]