Cтраница 2
Выведенные формулы можно применить и к расчету фактора поглощения в сильно поглощающем кристалле произвольной формы. [16]
![]() |
Зависимость критерия Sc от осредненного значения параметра дифракции р32 по данным.| Влияние температуры Т на удельные средние по Планку. [17] |
При этом использовались также данные [7, 64] по оптическим константам и спектральным факторам поглощения и рассеяния. [18]
![]() |
Схематическое изображение прибора для придания кристаллам сферической формы. 1-шлифовальный круг. 2 - 3 - запирающие пластины. 4 - штуцер для вдувания сжатого воздуха. [19] |
Обращение к кристаллам цилиндрической или сферической форм позволяет избавиться от зависимости фактора поглощения от формы и ориентации кристалла. Практическое значение этого случая также достаточно велико: многие игольчатые кристаллы с примерно изометричным поперечным сечением можно рассматривать как цилиндрические; с цилиндрическими образцами мы имеем дело и в методе порошка. [20]
Экспериментально поврежденность структуры можно определить при помощи рентгеновского микроскопа и оценить фактором поглощения. [21]
В / ( Е, ц, d, cp) - фактор поглощения, который выражает отношение совокупного излучения к первичному излучению. [22]
![]() |
Доля лучей, отраженных от [ IMAGE ] Пример зависимости поглощения. [23] |
Если форма кристалла не может быть аппроксимирована как цилиндрическая или сферическая, расчет фактора поглощения значительно усложняется. [24]
![]() |
Связь между углами, характеризующими направление1 дифракционного луча ( 2Й, 1х, v, t и ориентацию кристалла ( в, В, а, В. [25] |
Это означает, что преимущество цилиндрических объектов заключается не только в упрощении расчета фактора поглощения ( не нужно определять ориентацию кристалла, значения А берутся по табличным данным), но и в том, что в первом приближении можно вообще не учитывать ни фактора поглощения, ни размеров пятен и ограничиваться визуальной оценкой средней интенсивности пятна. [26]
Таким образом, мощность, потребляемая деталью, будет зависеть от множителя ур, который называют фактором поглощения мощности. [27]
![]() |
Блок-схема процесса определения структуры молекулы. [28] |
Для каждого отражения необходимо также скорректировать интенсивность с учетом классических факторов Лорентца, поляризационного фактора [47], факторов поглощения и, если нужно, разрушения [48, 49]; редко вводят поправку на. При наличии нескольких измерений одного и того же отражения или симметричных отражений следует получить среднее значение интенсивности. [29]
Следует, правда, отметить, что при оценке интенсивности отражений и некоторых факторов, определяющих интенсивность ( фактор поглощения, экстинкция), рентгенограммы, снятые по методу порошка, дают существенно более точные результаты, чем рентгенограммы, полученные с монокристаллов. [30]