Cтраница 3
Помехи, возникающие из-за случайных флуктуации проводимости полупроводника, которые, в свою очередь, являются следствием неравномерности концентрации носителей и случайных изменений их подвижности. Экспериментально установлено, что мощность этой составляющей помех обратно пропорциональна частоте протекающего через транзистор тока. [31]
В системах, подверженных случайным флуктуациям, интерес концентрируется вокруг чувствительности системы к этим флуктуациям. В то время как в области чувствительности детерминированных систем проделана большая работа [25], мало сделано в отношении влияния возможных случайных возмущений на построение системы. Причина понятна, поскольку было показано [26], что первая производная показателя качества из-за шума измерений равна нулю, и поэтому необходимо вычислить по меньшей мере частную производную второго порядка, чтобы получить нетривиальную аппроксимацию. [32]
Ее нижняя граница определяется случайными флуктуациями ( шумом) в сигнале прибора. Для не очень точного измерения отношение сигнал / шум ( S / N) должно быть равно по крайней мере двум, но для точных измерений оно должно быть больше. Верхняя граница определяемых концентраций связана с явлением насыщения, например с растворимостью анализируемого соединения или возможностями детектора. Область определяемых концентраций для некоторых методов составляет 4 - 5 порядков измеряемой величины, для некоторых же ограничена одним порядком. [33]
В любом из рассмотренных вариантов случайные флуктуации электрического поля двух близлежащих молекул оказываются связанными и в их осцилляциях обнаруживается корреляция, чего бы не наблюдалось, если бы молекулы были изолированы. Указанное взаимодействие между близлежащими молекулами уменьшает свободную энергию системы - иначе говоря, между сближающимися молекулами возникает сила притяжения. [34]
Обычно шумы наблюдают в виде случайных флуктуации либо напряжения на клеммах прибора, либо проходящего через прибор тока. Как правило, шумы можно объяснить поведением ла микроскопическом уровне носителей заряда внутри прибора, л это означает, что наблюдаемые флуктуации будут очень малы ло отношению, скажем, к уровню обычного сигнала генератора импульсов. Таким образом, шумы в активном устройстве обычно создают лишь чрезвычайно малые отклонения от рабочей точки, и в этом случае к шумовым флуктуациям можно применить теорию малых сигналов. [35]
Время т0 является характерным масштабом случайных флуктуации фазы и амплитуды волн светового пучка с ударным уширением линий. При других механизмах уширения линий и их комбинаций также имеются характерные времена случайных флуктуации фазы и амплитуды светового пучка. Они играют большую роль в явлениях интерференции ( см. гл. [36]
Влияние недиагонального беспорядка, т.е. случайных флуктуации величины Ffr на локализацию качественно отличается от влияния диагонального беспорядка. Диагональный беспорядок означает, что энергетический уровень квазичастицы при попадании в ловушку уширяется, так как последняя передает квазичастице энергию поляризации. Для того чтобы квазичастица могла переместиться на ближайшую незанятую ловушку, решетка вокруг нее должна предварительно так перестроиться, чтобы перенос квазичастицы мог совершиться без изменения энергии. Если энергия поляризации велика, то перенос становится невозможным, и как следствие происходит локализация. В случае только недиагонального беспорядка, если пренебречь изменениями энергии в узле из-за статических или динамических флуктуации локальных межмолекулярных взаимодействий, меняется только скорость переноса. Короче говоря, при наличии диагонального беспорядка локализованные состояния могут существовать, если же имеется только недиагональный беспорядок, то локализация невозможна. [37]
В последние десятилетия интерес к случайным флуктуациям и описывающим их стохастическим методам чрезвычайно возрос. Число статей, рассеянных по литературе из разных областей знания, исчисляется, должно быть, тысячами. Этим проблемам посвящены специальные журналы. И тем не менее физик или химик, желающий познакомиться с этой темой, должен немало потрудиться, чтобы отыскать подходящую вводную литературу. [38]
![]() |
Функция распределения ( 7 и плотность распределения ( 2 давлений при работе парогенератора под нагрузкой. [39] |
Разделить случайные ошибки собственно измерений и случайные флуктуации исследуемого параметра не представляется возможным. Так как, однако, случайные погрешности приборов известны, всегда можно оценить долю их, падающую на колебания параметра. [40]
Многообразие мод осцилляторов, связанных со случайными флуктуациями электрического поля молекулы, допускает синхронизацию ее лондоновского взаимодействия одновременно с несколькими другими молекулами, без взаимной конкуренции. [41]
На клеммах электронных устройств и систем наблюдаются случайные флуктуации напряжения ( или тока), и эти флуктуации обычно называют шумом. Этот шум не обусловлен, например, дефектом контактов или каким-либо другим устранимым паразитным эффектом, а присущ самой системе. Он зарождается в результате случайного ( на микроскопическом уровне) поведения носителей заряда внутри электронных составляющих систем. Именно такой тип шума будет в основном рассматриваться в этой книге. [42]
Если х ( t) есть реализация случайных флуктуации напряжения на концах проводника, то Dx - средняя мощность флуктуации тока, рассеиваемая на единичном сопротивлении этого проводника. [43]
В общем случае мультипликативная помеха является следствием случайных флуктуации параметров канала передачи, включающего среду распространения сигнала и аппаратуру, осуществляющую его обработку. [44]
Аналогичные эксперименты многократно производились в применении к случайным флуктуациям X ( t) самой разнообразной природы и всегда приводили к прекрасному согласию теории с опытом; в настоящее время такого рода опыты широко используются на практике для взаимной проверки приборов, предназначенных для измерения спектральных плотностей / ( со) и корреляционных функций В ( т), а теорема Хинчина при этом всегда рассматривается как твердо установленное соотношение, связывающее между собой результаты этих двух типов измерений. [45]