Фокусировка - микроскоп
Cтраница 2
В табл. 9 2 ( № 5 и 6) выполнены анализы зубчатой передачи и механизма Мейера для фокусировки микроскопа. [16]
А получен при фокусировании микроскопа на верхнюю часть образца, чтобы выявить верхнюю параболу а рис. 4, В - при фокусировке микроскопа на центральную, глубокую часть слоя. Структуры рассмотрен кого типа возможны тольт ко в том случае, если инди видуальные слои относи тельно текучи. Обширные исследования подтвердили, что во всех La-фазах лио-тропных жидких; кристаллов углеводородные цепи амфи-фильных молекул, находятся в состоянии, которое можно считать расплавом. [17]
 |
Преломление и отражение лучей света на вертикальной границе раздела сред ( п ип. [18] |
Полоской Бекке называется тонкая каемка, несколько более светлая, чем окружающий фон, которая отделяется от границы двух сред при слабом нарушении фокусировки микроскопа. Перемещаясь параллельно самой себе, она сдвигается на одну из сред. Если направление движения тубуса сменить на противоположное, светлая каемка пойдет обратно, снова сольется с границей и затем перейдет на вторую среду. [19]
Полоской Бекке называется тонкая каемка, несколько более светлая, чем окружающий фон, которая отделяется от границы двух сред при слабом нарушении фокусировки микроскопа. Перемещаясь параллельно самой себе, она сдвигается на одну из сред. Если направление движения тубуса сменить на противоположное, светлая каемка пойдет обратно, снова сольется с границей и затем перейдет на вторую среду. При этом оказывается справедливым следующее правило: при поднятии тубуса полоска Бекке переходит на среду, имеющую более высокий показатель преломления, а при опускании тубуса - на среду, имеющую более низкий показатель преломления, У современных микроскопов с неподвижным тубусом его поднятие заменяется опусканием столика, а опускание тубуса - поднятием столика. [20]
Вертикальное перемещение кронштейна с микроскопом по колонке в зависимости от высоты испытуемого объекта осуществляется с помощью гайки. При фокусировке микроскопа для первоначальной настройки используется механизм макроподачи, а более тонкая регулировка достигается с помощью механизма микроподачи. [21]
 |
Приспособления для установки и смены объективов. [22] |
Установка изображения на резкость называется фокусировкой микроскопа. [23]
С помощью полоски Бекке или других эффектов определяют, большую или меньшую величину показателя преломления имеет исследуемое вещество по сравнению с эталонной средой. Полоска Бекке появляется при слабом нарушении фокусировки микроскопа как тонкая светлая полоска на границе двух сред вследствие преломления света. Для определения показателя преломления используется свойство полоски Бекке переходить при поднятии тубуса микроскопа на среду с более высоким показателем преломления, а при опускании тубуса - на среду с более низким значением этой величины. [24]
Пленочная камера имеет зеркальный видоискатель, с помощью которого производится фокусировка микроскопа. Насадка устанавливается на оптическую головку микроскопа вместо бинокулярного - тубуса. [25]
Конструкция микроскопа показана на фиг. На основании 1 укреплены осветитель 2 и коробка 3 с механизмами для фокусировки микроскопа. [26]
На этом фокусировка конденсора заканчивается. На место пробного препарата устанавливается препарат для съемки и производится поправка на фокусировку микроскопа и конденсора. [27]
Определение длин волн неизвестных линий производится следующим образом: на предметный столик кладут спектрограмму ( фотопластинку) эмульсией кверху так, чтобы увеличение длин волн спектральных линий соответствовало возрастанию числа делений на миллиметровой шкале микроскопа. Зеркалом 6 регулируют равномерность освещения соответствующего участка спектрограммы, окуляр устанавливают на резкость изображения крестообразно расположенных нитей вращением оправы 13 глазной линзы и производят фокусировку микроскопа вращением объектива до получения резкого изображения линий. [28]
При использовании автоматических количественных анализаторов структуры необходимо иметь в виду, что они могут учитывать нежелательные детали изображения. Поэтому к анализируемым шлифам предъявляются высокие требования в отношении чистоты поверхности, отсутствия дефектов изготовления, четкости выявления структурных составляющих наряду со специфическим требованием плоско-параллельности, обеспечивающей постоянство фокусировки микроскопа. [30]
Страницы: 1 2 3 4