Фокусировка - микроскоп
Cтраница 3
 |
Общий вид и ос. [31] |
Кроме фильтров АФА-Д-3 для дисперсионного анализа может быть использован фильтр АФА-В-10, изготовленный из аналогичного материала. Этот фильтр имеет большую толщину ( до 1 мм), в результате чего частицы пыли могут проникать на некоторую глубину его и располагаться не в одной плоскости, что затрудняет фокусировку микроскопа при значительных Увеличениях. [32]
У сильных объективов это расстояние составляет доли миллиметра, и надо следить за тем, чтобы при фокусировке не раздавить препарат и не повредить объектив. Для этого, глядя на объектив сбоку, опускают тубус так, чтобы зазор между объективом и препаратом был минимальным. Фокусировку микроскопа производят путем подъема тубуса. Для предохранения объектива и препарата от повреждения современные иммерсионные объективы большого увеличения выпускаются в пружинных оправах. При соприкосновении с препаратом оправа такого объектива начинает подниматься, сжимая пружину. Давление пружины подобрано таким, чтобы не повредить ни препарат, ни объектив. [33]
При фокусировке микроскопа на нить дифракционные полосы не наблюдаются, так как толщина нити во много раз больше длины световой волны. При удалении микроскопа от нити появляются дифракционные полосы. Пока нить перекрывает большое число зон Френеля, наблюдаемое в микроскоп ее дифракционное изображение до некоторой степени похоже на ориги-нал. При дальнейшем удалении микроскопа от нити сходство полностью исчезает. В частности, если на полутолщине нити укладывается одна зона Френеля, в центре поля зрения наблю - дается не темная, а светлая полоса. [34]
 |
Оптическая схема микроскопа светового сечения.| Схема рефлексометра. [35] |
Измерение осуществляется последовательной фокусировкой микроскопа на дно риски или царапины и ее верхний край и регистрацией перемещения тубуса микроскопа. [36]
 |
Призматическая микрофотона-садка МФН-1 с малоформатной камерой МФК-3. [37] |
Перед началом работы глазная линза телескопического окуляра устанавливается по глазу. Это достигается передвижением линзы до получения резкого изображения креста нитей или особой шкалы, расположенной в плоскости Ft. После этого производится фокусировка микроскопа обычным путем. [38]
Каждая пара может работать либо в прямом ходе, давая соответствующее увеличение, либо в перевернутом. Таким образом, поворачивая системы и выключая их совсем, можно получить пять ступеней увеличения микроскопа при быстром переходе от одной к другой. При изменении увеличения фокусировка микроскопа не нарушается. Линзы 5 проектируют изображение объекта в фокальную плоскость сменных окуляров 6, имеющих увеличенное поле зрения. [39]
Анод представлял собой кольцо диаметром 38 1 мм из платиновой проволоки ( 0 0 635мм), непосредственно связанное с тубусом микроскопа. Это осуществлялось автоматически при фокусировке микроскопа на катод. [40]
Убедитесь в том, что при фокусировке микроскопа на нить дифракционные полосы не наблюдаются. При удалении микроскопа от нити появляются дифракционные полосы. Пока нить перекрывает большое число зон Френеля, наблюдаемое в микроскоп дифракционное изображение нити до некоторой Степени похоже-на оригинал. При дальнейшем удалении микроскопа от нити сходство полностью исчезает. [41]
Ось поворота лежит в горизонтальной плоскости, проходящей через ось центров. При измерении цилиндрических гладких или резьбовых объектов, фокусировка микроскопа на осевую плоскость производится предварительно по контрольному валику, укрепляемому в тех же центрах, в которых будет производиться измерение. Валик имеет в своей средней части сквозное отверстие, с расположенным в осевой плоскости лезвием, на которое и фокусируется микроскоп. [42]
Для расчета значения двойного лучепреломления ( пе-п 0) по измеренной разности хода А ( пе - n0) d необходимо знать толщину анизотропной пластинки. Если известен средний показатель преломления ( пе п0) / 2, то толщину пластинки можно-измерить также на микроскопе. Для этого, используя объектив большого увеличения, производят фокусировку микроскопа последовательно на нижнюю и верхнюю поверхности пластинки, наблюдая пылинки или царапины на этих поверхностях. [43]
 |
Характеристика объективов микроскопа МИС-11. [44] |
Щель проектирующего микроскопа освещается электролампочкой. Изображение щели приводят в центр поля зрения наблюдательного микроскопа и фокусируют на измеряемую поверхность. Резкий край изображения щели совмещается с резко изображенным участком среза. Бели при этом нарушается фокусировка микроскопа на щель, ее снова восстанавливают, после чего резкий край щели точно совмещают с участком резкого изображения среза. [45]
Страницы: 1 2 3 4