Неточная фокусировка

Cтраница 1

Заплывание дорожки записи фотографической фонограммы.| Принцип компенсации заплывания фотографической фонограммы.| IS. Много-дорожечная фотографическая фонограмма. [1]

Неточная фокусировка, при которой на плоскости фонограммы не образуется резко очерченный штрих. Это эквивалентно расширению штриха и приводит к ослаблению полезного сигнала на верхних частотах. [2]

Параллакс сетки происходит от неточной фокусировки трубы, а проявляется он в том, что при передвижении глаза перед окуляром центр сетки смещается с той точки, на которую ранее был наведен; уничтожается уточнением фокусировки. [3]

Для симметричного случая двух пучков неточная фокусировка или сферическая аберрация не обязательно изменят изображение, поскольку фазовый множитель будет одинаков для обоих пучков. Это обстоятельство позволяет легче обнаружить полосы, но одновременно может привести к не всегда справедливой точке зрения о том, что в таком случае получение изображения кристаллической решетки уже не накладывает строгих требований на качество прибора, поскольку разрешение полос обычно лучше, чем разрешение по точкам. [4]

Эти отклонения на несколько порядков меньше отклонений из-за неточной фокусировки, поэтому ими можно пренебречь. [5]

Заплывание фотографической фонограммы ( а и компенсация этого искажения при печати позитива ( б, много дорожечная оптическая фонограмма ( в.| Номинальные скорости движения киноленты при записи и воспроизведении звука. [6]

Искажения из-за неточной настройки читающего штриха вызваны тремя причинами: неточной фокусировкой светового ( луча, при этом в плоскости фонограммы не образуется четко очерченного штриха, что равносильно расширению штриха; неравномерностью освещенности по длине штриха, что приводит к нелинейным искажениям; непараллельностью пишущего и читающего штрихов, что также эквивалентно расширению читающего штриха. Спад АЧХ на верхних частотах, обусловленный непараллельностью штрихов, определяется коэффициентом перекоса. [7]

Схема прибора для неконтактного контроля плоскостности. [8]

Автоколлимационное отражение маски в плоскости сетки 9 наблюдается в окуляр 10, в случае неточной фокусировки раздваивается. Это позволяет в качестве критерия фокусировки использовать нониальное или биссекторное совмещение штрихов. Точность метода повышается при увеличении Ь, например, в схемах с базисом вне объектива, как показано на рисунке. [9]

Схема прибора для неконтактного контроля плоскостности. [10]

Автоколлимационное отражение маски в плоскости сетки 9 наблюдается в окуляр У 0, в случае неточной фокусировки раздваивается. Это позволяет в качестве критерия фокусировки использовать нониальное или биссекторное совмещение штрихов. Точность метода повышается при увеличении Ь, например, в схемах с базисом вне объектива, как показано на рисунке. [11]

Возникающие осложнения чаще всего бывают следствием неправильной экспозиции или лабораторной обработки, попадания пыли, твердых частиц в рабочих растворах, засветки, слишком быстрой сушки, отпечатков пальцев, неточной фокусировки или вуалирования пленки. [12]

S ( например, прозрачный штрих на темном фоне), которая зеркалом 4, линзой 5 и объективом 7 фокусируется на объект 8, Автокод-лнмационное отражение маски в плоскости сетки 9 наблюдается в окуляр 10, в случае неточной фокусировки раздваивается. Это позволяет в качестве критерия фокусировки использовать кониальное или биссекторное совмещение штрихов. [13]

При слишком малом размере селекторной диафрагмы возникает несоответствие между областью объекта, где изображается селекторная диафрагма, и областью объекта, от которой фактически получается дифракционная картина. Это несоответствие может быть следствием неточной фокусировки. Однако существует и принципиальное ограничение, связанное со сферической аберрацией объективной линзы. Как видно на схеме ( рис. 20 26), сферическая аберрация вызывает смещение изображения селекторной диафрагмы. Из-за сферической аберрации электроны, покидающие объект с разных направлениях и формирующие разные рефлексы возле главной фокальной плоскости, относятся к разным участкам объекта. В микроскопе с ускоряющим напряжением 100 кВ смещения для отражений второго и третьего порядков достигают нескольких десятых долей микрометраv поэтому обычно получают картины дифракции от области около 1 мкм в поперечнике. [14]

Приведенные расчеты весьма приближенны, но они допустимы как предварительные. Значительно большие отступления от рассчитанных значений возникают на практике из-за недостатков оптической системы прожекторов, неточной фокусировки ламп, погрешностей в наведении, быстрого старения зеркал и неточного расположения тела накала в лампе. К тому же нет никакой уверенности, что нормируемая освещенность в данных конкретных условиях является наилучшей. Поэтому можно утверждать, что наиболее надежным способом проектирования установок архитектурного освещения является макетирование. [15]

Страницы: 1 2