Cтраница 3
Так как в зависимости от значений коэффициента сжатия Кс форма записанных неровностей резко изменяется и делается затруднительным сравнение профилограмм, необходимо установить единый ряд вертикальных Ve и горизонтальных Vг увеличений профилографов. [31]
![]() |
Действительный профиль ( профиллограмма поверхности. [32] |
Форма неровностей влияет на параметр Ra, но влияние формы неровностей на эксплуатационные качества деталей величиной Ra оценить нельзя, так как при различных формах неровностей значения Ra могут быть одинаковыми. [33]
![]() |
Схема к оценке шероховатостей. [34] |
При оценке шероховатостей принимается во внимание не только высота и форма неровностей, но и характер их расположения на обработанной поверхности. [35]
![]() |
Профиль поверхности с высотой неровностей Н. [36] |
Отношение НСр / Нск не постоянно, а меняется при изменении формы неровностей. [37]
В число факторов этого уравнения необходимо ввести еше шероховатость стенки в форме небольших неровностей, в качестве так называемой относительной шероховатости ( отнесенной к величине / о) - Влияние ее еще недостаточно выяснено; поэтому помещенные ниже формулы относятся только к трубам средней шероховатости. [38]
В работах последнего времени дана более полная оценка параметров шероховатости поверхности, где учитывается форма неровностей, определяемая максимальной высотой Ктел. Под относительной опорной кривой профиля понимается графическое изображение зависимости значений относительной опорной длины профиля от уровня сечения профиля. Так, например, в работах [104, 113] и других авторов используется радиус неровностей, отношение f / max и угол наклона элементов профиля к средней линии. [39]
Профилометр в данном случае неприменим, так как он царапает поверхность слепка и искажает форму неровностей. [40]
![]() |
Упрощенная схема автоколебаний при резании. [41] |
Критерий Ra является интегральным критерием, определяется электрическими приборами и учитывает до некоторой степени форму неровностей поверхности. [42]
Параметр tp содержит наибольшую информацию о высотных свойствах профиля ( он комплексно характеризует высоту и форму неровностей профиля), так как она аналогична функции распределения. [44]
Преимуществом оптических приборов - двойного микроскопа и микроинтерферометра является то, что в них можно наблюдать форму неровностей исследуемой поверхности. [45]