Донный импульс
Cтраница 2
Таким образом, на экране электронно-лучевой трубки будет наблюдаться зондирующий импульс от излучающей головки и донный импульс, отраженный от нижней грани изделия. [16]
Скорость развертки обычно выбирается так, чтобы импульс, отраженный от противоположной стороны изделия ( донный импульс), помещался в конце развертки с правой стороны экрана. Тогда, если в толще металла имеется дефект, отраженный от дефекта импульс будет принят щупом раньше, чем донный импульс. [18]
 |
Работа схемы УЗ-калибр при озвучивании. [19] |
При этом последнее не перекрывает одновременно оба УЗ-луча, и над таким болтовым отверстием всегда будет регистрироваться донный импульс. Наличие трещины полностью или частично перекрывает оба луча, что приводит к резкому уменьшению или полному исчезновению донного импульса, а следовательно, к срабатыванию индикатора. [20]
 |
Электрическая схема переносного электрического дефектоскопа. [21] |
Ультразвуковые квлебания, преобразованные в электрические, отмечаются на экране электроннолучевой трубки в виде начального зондирующего импульса и отраженного от конца изделия донного импульса. При наличии дефекта между первыми двумя импульсами появляется импульс, отраженный от границы дефекта. [22]
Как отмечалось выше, одним из критериев хорошего качества контакта щуна дефех тоскопа с поверхностью контролируемого изделия является наличие на экране трубки дефектоскопа донного импульса. Однако встречаются случаи, когда по каким-либо причинам донный сигнал отсутствует, например при контроле изделий с непараллельными в прозвучиваемом направлении стенками или при контроле призматическими щупами. В этих случаях необходимо быть уверенхтым в качестве х онтакта щупа с изделием, так как плохой контакт может вызвать ложные суждения о характере распространения звука в исследуемом образце. Одним из возможных вариантов контроля качества контакта является измерение параметров колебательного контура генератора, питающего пьезо-излучатель. При улучшении коххтах та нагрузка на излучатель увеличивается, что приводит к увепичеххию собственной частоты пьезоэлемента ixa несколько десятых долей процента. Эти небольшие изменения частоты пьезоэлемента наиболее удобно фиксируются. Один из этих связанных контуров входит в обычную схему б локинг-генератора, другой-является входным х онту-ром пьезоэлемента. [23]
В приборе ДУК-66 автоматический сигнализатор дефектов вынесен в специальную приставку АС-2, имеющую два основных узла: канал выделения сигнала дефекта и канал слежения за донным импульсом с интегратором для получения постоянного напряжения, пропорционального амплитуде донного сигнала. [24]
Трубы, имеющие сварные швы с трещинами ( несплошностями) меньше 4 см, допускается оставлять в эксплуатации, если амплитуда импульса от дефекта меньше амплитуды донного импульса. Трубы, имеющие сварные швы с трещинами ( несплошностями) условной протяженностью 4 см и больше, следует браковать, если амплитуда импульса от дефекта больше амплитуды донного или если донный импульс полностью экранирован. [25]
Так как для прохождения ультразвуковых колебаний через металл требуется некоторое время, то посылаемые и принимаемые импульсы будут несколько смещены во времени и соответственно на экране электронно-лучевой трубки принятый донный импульс будет расположен на расстоянии вправо от посылаемого импульса. [26]
 |
Блок-схема импульсного ультразвукового дефектоскопа с приемом отраженного сигнала.| График работы генератора импульсного ультра. [27] |
При наличии дефекта 14 ультразвуковой - импульс при распространении в испытуемом-материале раньше достигнет его, чем противоположной грани материала и, отразившись, раньше попадает на приемную пьезоэлектрическую пластинку, чем донный импульс. Расстояния между импульсом, отраженным1 от дефекта, и двумя крайними импульсами на экране электронно-лучевой трубки могут служить для измерения глубины залегания дефекта в материале. [28]
 |
Схема контроля отливох.| Схема контроля отливок теневым иммерсионным методом по двухщуповой схеме. [29] |
Следует иметь в виду, что при однощуповой схеме ( рис. IX.26) у поверхности отливки наблюдаются мертвые зоны, где дефекты не выявляются в связи со слиянием импульса от дефекта с зондирующим или донным импульсом. При двухщуповой схеме такие зоны существенно уменьшаются. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5