Характер - образец
Cтраница 1
Характер образцов, с которыми эти эксперименты были проведены, показан на рис. 3.34. Вся аппаратура, которую использовал Кирхгоф, изображена на рис. 3.35. Стержень был оперт в его середине, обозначенной буквой А. [1]
В зависимости от характера образца и условий съемки ЯМР спектры могут состоять из относительно широких или узких полос, показанных на рис. 37.6 пунктиром и сплошными линиями соответственно. Широкополосные спектры называются спектрами низкого разрешения, а узкополосные - высокого разрешения. В спектрах высокого разрешения полосы, соответствующие отдельным группам протонов ( или других одноименных ядер), могут быть дополнительно расщеплены за счет магнитного взаимодействия ядерных спинов этих протонов со спинами соседних ядер. [2]
 |
Аксиальная рентгеновская камера.| Рентгенограмма меди, полученная в аксиальной камере. [3] |
В зависимости от характера образцов и причин возникновения ориентации используются различные приемы рентгеновского исследования. Для изучения текстуры электроосажденных металлов разработаны особые способы, облегчающие расшифровку полученных данных. [4]
 |
Принципиальная блок-схема фото - ( рентгено-электронного спектрометра. [5] |
Глубина выхода А, зависит, конечно, от характера образца ( плотности и упаковки), энергии связи электронов, а значит, и Ект, угла эмиссии фотоэлектронов. [6]
Количество пентана, которое требуется для проведения опыта, зависит от характера образца, размеров колонны и условий опыта. В среднем обычно требуется 0 30 - 0 40 мл пентана на 1 г силикагеля. [7]
При необходимости проведения большого числа измерений такого рода и при условии, что характер образца не меняется при переходе от одной точки к другой, возможна экспрессная съемка камерой типа РКЭ. Прецизионные измерения параметров ячейки кристаллов ромбической, моноклинной и триклинной систем, а в сложных случаях и других систем не могут проводиться на поликристаллических веществах; для этого необходимо исследование монокристаллов в камерах типа РКУ. [8]
ОР относительно направления вектора падающего пучка / Со - Выбор вида съемки определяется размером и характером образца, прямая съемка применима для кристалла достаточно малого размера или для кристалла в виде фольги. В случае толстых образцов ( монокристалл или крупнокристаллический поликристалл) применяется метод эпиграмм. [10]
Процесс травления зависит от состава и концентрации используемых реагентов, от времени травления, температуры травления и характера образца. При переходах, которые находятся достаточно глубоко в объеме полупроводника, делают поперечный шлиф. [11]
Характер образца ( монокристалл пли поликристалл, образец с частично упорядоченной структурой или аморфное тело, жидкость или газ), его размер и решаемая задача определяют необходимую экспозицию и точность регистрации рассеянного рентг. [12]
В некоторых случаях одних полярографических испытаний оказывается недостаточно для определения природы высокомолекулярного вещества. Поэтому сведения о характере образца пластмассы следует дополнять результатами наблюдений за его поведением при сухой перегонке, а также данными химического анализа, рентгенографии, спектроскопии и другими исследованиями. [13]
 |
Термомеханические кривые образцов полиуретансемикарбазида. [14] |
Как было установлено в результате термографических исследований, введение наполнителей в полиуре-тансемикарбазид, с одной стороны, расширяет интервал первого перехода, не изменяя температуры его начала, а с другой - повышает температуру начала второго и третьего переходов и сужает интервал второго. Кроме сказанного, меняется характер термомеханических кривых наполненных образцов полиуретансемикарбазида ( рис. 7), повышается температура текучести наполненных систем, а также увеличивается их деформируемость между первым и вторым переходами. [15]
Страницы: 1 2