Индекс - миллер
Cтраница 3
Равенство нулю одного или двух индексов Миллера означает, что плоскости параллельны одной или двум кристаллографич. Миллера соответствуют плоскостям, пересекающим оси координат в отрицат. При дифракции рентгеновских лучей индексы h, k, I отражающей плоскости характеризуют одновременно положение дифракционного максимума ( рефлекса) в обратной решетке. [31]
Некоторые плоскости, различающиеся по индексам Миллера, являются эквивалентными в кристаллографическом и физическом смысле. [32]
 |
Системы кристаллических решеток по Бравэ. [33] |
Сочетание ( hkl) называется индексом Миллера плоскости. На рис. 2.2 показаны различные кристаллографические плоскости и их индексы Миллера. [34]
 |
Системы кристаллических решеток по Бравэ. [35] |
Сочетание ( hkt) называется индексом Миллера плоскости. На рис. 2.2 показаны различные кристаллографические плоскости и их индексы Миллера. [36]
 |
Различные возможные поло-жения частиц на поверхности кристалла. [37] |
Это означает, что чем выше индексы Миллера плоскости, тем менее вероятно с термодинамической точки зрения ее появление в кристалле. [38]
 |
Схема к выводу обозначений плоскостей н направлений в кристаллических решетках. [39] |
Принятая система обозначения плоскостей с помощью индексов Миллера позволяет переносить начало системы координат без поворота осей в любую точку кристаллической решетки, и эта операция не изменяет индекса плоскостей. [40]
Направления и плоскости в кристаллах обозначаются индексами Миллера. Индексы, определяющие положение поверхностей, заключаются в круглые скобки, а индексы, определяющие направления, - в квадратные скобки. [41]
Индексы h k I, называемые индексами Миллера, обычно используются для обозначения системы плоскостей. Ограничение, налагаемое уравнением ( 1), разрешает дифракцию лишь под строго определенными углами в строго определенных направлениях. Следовательно, картина дифракции, получаемая при вращении кристалла, состоит из набора дискретных пятен, положение которых определяется исключительно геометрией элементарной ячейки, а не самим расположением атомов. [42]
Для обозначения плоскостей кристаллической решетки пользуются индексами Миллера h, k, I. Величина / z, k, l обратна длине отрезков, отсекаемых данной плоскостью на осях координат. Длину отрезков принимают равной длине ребра элементарной ячейки. [43]
Индексы h k I, называемые индексами Миллера, обычно используются для обозначения системы плоскостей. Ограничение, налагаемое уравнением ( 1), разрешает дифракцию лишь под строго определенными углами в строго определенных направлениях Следовательно, картина дифракции, получаемая при вращении кристалла, состоит из набора дискретных пятен, положение которых определяется исключительно геометрией элементарной ячейки, а не самим расположением атомов. [44]
Плоскости в кристаллической решетке принято обозначать индексами Миллера, которые даются в виде обратных осевых отрезков, причем осевые отрезки выражены в единицах длины осей. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5