Дифракционный индекс

Cтраница 1

Дифракционные индексы пишутся без скобок. [1]

Индексы узловых сеток в непримитивной двумерной решетке. а - каждая сетка проходит как через узлы, расположенные в вершинах ячеек, так и через узлы, расположенные внутри ячеек. б - одни сетки проходят через узлы, расположенные в вершинах ячеек, другие - через узлы, расположенные. [2]

Дифракционные индексы р, q, r определяют разность хода лучей ( в длинах волн), рассеянных двумя соседними узлами решетки, расположенными на осях X, Y и Z соответственно. Между этими параметрами имеется простая связь: p nh, q nk, r nl ( см. стр. [3]

В литературе по рентгеноструктурному анализу дифракционные индексы принято обозначать теми же буквами h, k, I, что и индексы серий плоскостей. [4]

В литературе по рентгеноструктурному анализу дифракционные индексы принято обозначать теми же буквами / г, k, l, что и индексы серий плоскостей. [5]

В литературе по рентгеноструктурному анализу дифракционные индексы принято обозначать теми же буквами h, k, l, что и индексы серий плоскостей. [6]

Для того чтобы найти правила, которым подчиняются дифракционные индексы pqr в решетке с непримитивной ячейкой, достаточно выбрать в той же решетке какую-либо примитивную ячейку и совершить переход к новой координатной системе. Связь между ними нетрудно будет найти в каждом случае. [7]

Поскольку ] порядок отражения п может быть любым целым числом, а дифракционные индексы р, q, r равны соответственно. [8]

Поскольку ячейка в новой системе примитивная, р, q, r - любые целые числа. Таким образом, написанные равенства дают правила, которыми связаны дифракционные индексы pqr в исходной системе координат. [9]

Индексы сеток преобразуются при помощи тех же коэффициентов, которыми задается переход от одной координатной системы к другой. Понятно, что по тем же правилам происходит и преобразование дифракционных индексов. [10]

В табл. 1 были приведены без доказательств правила, характеризующие численные значения индексов серий угловых сеток в центрированных решетках. На этой основе ( при умножении индексов сеток на порядок отражения п) были получены правила погасаний дифракционных индексов для непримитивных решеток. [11]

I, § 11) были приведены без доказательства правила, характеризующие численные значения индексов серий угловых сеток в центрированных решетках. На этой основе ( при умножении индексов сеток на порядок отражения п) были получены правила погасаний дифракционных индексов для непримитивных решеток. [12]

Если пользоваться монохроматическим пучком лучей, дифракционные условия Лауэ удовлетворяются лишь при определенных ориента-циях кристалла. При съемке по методу вращения кристалл проходит через различные такие положения, последовательно возбуждая вторичные лучи с различными дифракционными индексами. После каждого оборота на 360 ситуация повторяется. Пятна рентгенограммы возникают в результате попадания в одни и те же точки пленки большого числа повторных порций дифрагированных лучей. Поскольку вращение кристалла во время съемки производится вокруг одной определенной оси, кристалл проходит не через все возможные для него дифракционные положения. Следовательно, дифракционная картина, получаемая на одной рентгенограмме вращения, в принципе не может быть полной. [13]

Соотношение ( 3) определяет связь l / d с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив l / d на n / d, а индексы ( hkl) на pqr, получим связь nfd с параметрами решетки и дифракционными индексами. [14]

Соотношение ( 3) определяет связь l / d с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив / d на n / d, а индексы ( hkl) на pqr, получим связь n / d с параметрами решетки и дифракционными индексами. [15]

Страницы: 1 2