Cтраница 2
Соотношение ( 3) определяет связь l / d с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив l / d на n / d, а индексы ( hkl) на pqr, получим связь n / d с параметрами решетки и дифракционными индексами. [16]
Соотношение ( 3) определяет связь l / d с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив [ / d на n / d, а индексы ( hkl) на pqr, получим связь n / d с параметрами решетки и дифракционными индексами. [17]
Богатство дифракционной картины само по себе только желательно: чем больше данных нам даст эксперимент, тем с большей уверенностью мы сможем в конечном итоге определить структуру кристалла. Поэтому естественно стремление пользоваться возможно более короткими длинами волн. Однако а этом пути легко можно встретиться с затруднениями: при чрезмерно большом числе пятен рентгенограмма останется нерасшифрованной: не удастся определить дифракционные индексы каждого пятна. Спрашивается, нельзя ли видоизменить метод съемки таким образом, чтобы существенно уменьшить число пятен на пленке. Очевидно, что для этого необходимо как-то распределить отражения по нескольким рентгенограммам, снимая каждый раз часть дифракционной картины. Пачка таких рентгенограмм по полноте дифракционной картины будет вполне эквивалентна одной рентгенограмме вращения, а по возможности расшифровки окажется значительно удобнее, поскольку каждое пятно будет характеризоваться кроме двух координат на пленке еще и третьей - номером рентгенограммы, на которой оно зафиксировано. [18]
Интерференционное уравнение вкладывает новое, более глубокое содержание в понятие обратной решетки. Теперь каждый узел ее однозначно связан с определенным дифракционным лучом pqr и может рассматриваться как некое условное изображение этого луча И наоборот, рентгенограмму, полученную методом вращения или одним из рентгенгониометрических методов, можно считать искаженным изображением ( проекцией) определенной части обратной решетки. Способ искажения зависит от кинематической схемы каждого из рентгенгониометрических методов. Но коль скоро она известна, переход от рентгенограммы к обратной решетке и обратно не представляет труда. А поскольку порядок обозначения узлов в решетке известен, такой переход дает наиболее простую и удобную основу для определения дифракционных индексов ( индицирования) рентгенограмм. [19]